面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流,傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí),還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù),自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性,對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記,確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理,無(wú)論數(shù)據(jù)來(lái)自ASL1000還是TR6850,均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上,異常值被自動(dòng)過(guò)濾,重復(fù)記錄被精確剔除,明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制,使工程師無(wú)需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件,而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征,構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。上海偉諾信息科技SPAT功能,通過(guò)結(jié)合測(cè)試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。江西MappingOverInk處理解決方案

為提升晶圓測(cè)試(CP測(cè)試)的質(zhì)量與可靠性,行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試,擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此,越來(lái)越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中,引入外觀檢測(cè)設(shè)備(AOI,AutomatedOpticalInspection),對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè),以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于,它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過(guò)”,但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類(lèi)“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn),是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過(guò)AOI檢測(cè),可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專(zhuān)業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案,解決兩大關(guān)鍵問(wèn)題:一是通過(guò)數(shù)據(jù)融合,篩除外觀與電性的全部不良品,生成高可靠性的合一Mapping;二是具備優(yōu)異的兼容性,可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類(lèi)探針臺(tái)(如TSK、TEL、UF3000等)可識(shí)別的格式,實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化,有效提升品質(zhì)與效率。江西MappingOverInk處理解決方案Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時(shí)自動(dòng)觸發(fā)設(shè)備維護(hù)工單,實(shí)現(xiàn)預(yù)防性維護(hù)。

面對(duì)工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來(lái)自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測(cè)試數(shù)據(jù),通過(guò)自動(dòng)化清洗與異常過(guò)濾,構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長(zhǎng)期趨勢(shì),或從空間維度比對(duì)不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異,精確識(shí)別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對(duì)WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿(mǎn)足從車(chē)間班組長(zhǎng)到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動(dòng)工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量躍升。
面對(duì)海量測(cè)試數(shù)據(jù),表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢(shì)曲線、散點(diǎn)圖等多種可視化圖表:晶圓熱力圖一眼識(shí)別高缺陷區(qū)域,時(shí)間序列圖揭示良率波動(dòng)周期,參數(shù)散點(diǎn)圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如,通過(guò)CP漏電與FT功能失效的散點(diǎn)分布,可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機(jī)制。圖形化表達(dá)降低數(shù)據(jù)分析門(mén)檻,使非數(shù)據(jù)專(zhuān)業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見(jiàn)即所得”的洞察方式,加速了從數(shù)據(jù)到行動(dòng)的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計(jì)原則,提升YMS的信息傳達(dá)效率與決策支持價(jià)值。Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對(duì)齊,確保測(cè)試結(jié)果可追溯。
良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成連續(xù)良率曲線,并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí),系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間,還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄,輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品,工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以?xún)?yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力,使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具,時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF,用于晨會(huì)或客戶(hù)匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)YMS的時(shí)間序列分析功能,助力客戶(hù)實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過(guò)程管控。Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯,確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無(wú)縫傳遞。江西MappingOverInk處理解決方案
Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車(chē)規(guī)級(jí)場(chǎng)景,保障晶圓表面完整性。江西MappingOverInk處理解決方案
因測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤導(dǎo)致誤判良率,可能引發(fā)不必要的重測(cè)或錯(cuò)誤工藝調(diào)整,造成材料與時(shí)間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫(kù)前執(zhí)行多層校驗(yàn),自動(dòng)剔除異常記錄,確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如,當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時(shí),系統(tǒng)會(huì)標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì),避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證,進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上,明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制,將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯,保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。江西MappingOverInk處理解決方案
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo),有組織有體系的公司,堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明,攜手共畫(huà)藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶(hù)粉絲源,也收獲了良好的用戶(hù)口碑,為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ),也希望未來(lái)公司能成為*****,努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量,我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息,斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌,共創(chuàng)佳績(jī),一直以來(lái),公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針,員工精誠(chéng)努力,協(xié)同奮取,以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng),我們一直在路上!
當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來(lái)自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的... [詳情]
2026-01-19在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測(cè)試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問(wèn)題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流... [詳情]
2026-01-19每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),... [詳情]
2026-01-18晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno... [詳情]
2026-01-18