上海半導體Mapping Inkless系統(tǒng)

良率管理服務的價值體現(xiàn)在全生命周期的技術陪伴與問題解決能力。YMS系統(tǒng)不僅提供數(shù)據(jù)采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺，更通過售前技術咨詢、售中合理化方案定制與售后標準化服務，確保系統(tǒng)與客戶實際流程深度契合。當客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設備后，系統(tǒng)自動處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數(shù)據(jù)，完成異常檢測與結構化存儲。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢、區(qū)域缺陷分布及WAT/CP/FT參數(shù)關聯(lián)性，快速制定改進措施。SYL與SBL的自動計算與閾值監(jiān)控，進一步提升過程穩(wěn)定性。靈活的報表工具支持多格式導出，打通從車間到?jīng)Q策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務體系支撐YMS落地，持續(xù)助力半導體企業(yè)邁向高質量發(fā)展。Mapping Over Ink處理支持結果回溯，便于客戶驗證和審計分析結果。上海半導體Mapping Inkless系統(tǒng)

在半導體設計與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價值體現(xiàn)在對復雜測試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動對接多種測試設備輸出的異構數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結構化處理，構建可靠的數(shù)據(jù)基礎。通過對WAT、CP、FT等關鍵工藝節(jié)點參數(shù)的聯(lián)動分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設計缺陷，為研發(fā)和制造團隊提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動與缺陷分布，支持從批次到晶圓級別的精細追溯。報表功能滿足不同管理層級對數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實現(xiàn)從現(xiàn)場到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動國產(chǎn)半導體軟件生態(tài)建設。廣西MappingOverInk處理工具Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導工藝改進方向。

面對工廠級良率管理的復雜性，單一數(shù)據(jù)源或手工報表已難以支撐全局質量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備的stdf、xls、log等測試數(shù)據(jù)，通過自動化清洗與異常過濾，構建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖，從時間維度追蹤長期趨勢，或從空間維度比對不同機臺、批次間的性能差異，精確識別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步打通從前道到后道的質量鏈路。SYL與SBL的自動卡控機制，確保關鍵指標始終處于受控狀態(tài)。靈活的報表導出功能，則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導體發(fā)展需求，持續(xù)完善YMS系統(tǒng)，推動工廠實現(xiàn)數(shù)據(jù)驅動的質量躍升。

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。 上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。

面對市場上良率管理系統(tǒng)供應商良莠不齊的局面，技術自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標準。真正有效的系統(tǒng)需同時支持多品牌Tester設備、處理異構數(shù)據(jù)格式，并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備的數(shù)據(jù)接口，覆蓋stdf、csv、log等十余種格式，實現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時間趨勢與晶圓區(qū)域對比，還能關聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，精確定位根因。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力，使YMS在國產(chǎn)替代進程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項目經(jīng)驗，持續(xù)驗證其作為可靠供應商的技術實力與服務承諾。SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。廣西MappingOverInk處理工具

UPLY處理針對特定層間關聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。上海半導體Mapping Inkless系統(tǒng)

良率波動若不能及時干預，可能造成數(shù)百萬級的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗來自多種測試平臺的異構數(shù)據(jù)，構建高可信度分析基礎。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關聯(lián)，并結合FT參數(shù)驗證是否為打線偏移導致。SYL/SBL卡控機制設置動態(tài)閾值，在指標異常時自動預警，實現(xiàn)前置質量管控。多周期報表自動生成并支持多格式導出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種“實時感知—智能歸因—主動干預”的能力，將良率管理從經(jīng)驗驅動升級為數(shù)據(jù)驅動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實用性。上海半導體Mapping Inkless系統(tǒng)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！