每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào),內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo),并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報(bào),質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘,客戶審計(jì)則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動(dòng)化流程消除手工匯總誤差,確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報(bào)告生成時(shí)間從數(shù)小時(shí)壓縮至分鐘級(jí),大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報(bào)表工具,讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。工藝波動(dòng)引發(fā)的微小偏移通過PAT統(tǒng)計(jì)模型精確捕捉,實(shí)現(xiàn)早期預(yù)警。黑龍江PAT工具

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高,任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)接入各類Tester平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù),完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合,確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫,支持按時(shí)間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯,幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化,可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控,為芯片級(jí)質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告,并導(dǎo)出為常用辦公格式,提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā),其YMS系統(tǒng)正成為國產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競爭力的關(guān)鍵助力。云南PAT服務(wù)上海偉諾信息科技Stacked Map功能,通過堆疊多片Wafer結(jié)合算法與卡控規(guī)則檢測mapping上存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。

面對國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對自主可控軟件的迫切需求,良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù),通過內(nèi)置算法識(shí)別重復(fù)項(xiàng)、缺失值并過濾異常記錄,確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支撐下,企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢,或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?,快速定位工藝波?dòng)點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,進(jìn)一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制,強(qiáng)化了過程質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式,提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng),助力構(gòu)建中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)。
面對市場上良率管理系統(tǒng)供應(yīng)商良莠不齊的局面,技術(shù)自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標(biāo)準(zhǔn)。真正有效的系統(tǒng)需同時(shí)支持多品牌Tester設(shè)備、處理異構(gòu)數(shù)據(jù)格式,并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的數(shù)據(jù)接口,覆蓋stdf、csv、log等十余種格式,實(shí)現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時(shí)間趨勢與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?,還能關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,精確定位根因。更重要的是,系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐,確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力,使YMS在國產(chǎn)替代進(jìn)程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),持續(xù)驗(yàn)證其作為可靠供應(yīng)商的技術(shù)實(shí)力與服務(wù)承諾。Mapping Over Ink處理推動(dòng)封測環(huán)節(jié)向預(yù)測性質(zhì)量演進(jìn),實(shí)現(xiàn)主動(dòng)風(fēng)險(xiǎn)管理。
晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后,依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對缺陷進(jìn)行分類,生成色彩漸變的熱力圖,直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn),識(shí)別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時(shí)間維度后,還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析,使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”,明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求,將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)持續(xù)優(yōu)化以適配先進(jìn)制程需求,保持技術(shù)優(yōu)勢。海南可視化Mapping Inkless系統(tǒng)定制
Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提供售前咨詢與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù),保障客戶實(shí)施體驗(yàn)。黑龍江PAT工具
良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成連續(xù)良率曲線,并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí),系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間,還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄,輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品,工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力,使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具,時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF,用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時(shí)間序列分析功能,助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過程管控。黑龍江PAT工具
上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個(gè)客戶不容易,失去每一個(gè)用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn),才能繼續(xù)上路,讓我們一起點(diǎn)燃新的希望,放飛新的夢想!
每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào),... [詳情]
2026-01-18晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno... [詳情]
2026-01-18在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí),YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解... [詳情]
2026-01-18當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)... [詳情]
2026-01-17