四川半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)商

每周一上午趕制良率周報曾是質(zhì)量團隊的固定負(fù)擔(dān)：手動匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式，耗時且易出錯。YMS內(nèi)置報表模板可按日、周、月自動生成結(jié)構(gòu)化報告，內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時間趨勢等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營會議，客戶審計接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔，工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數(shù)小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業(yè)決策從“經(jīng)驗驅(qū)動”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動”轉(zhuǎn)型。上海偉諾信息科技Mapping Bin 轉(zhuǎn)換功能，可以將Wafer Map上指定坐標(biāo)的芯片進行Ink。四川半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)商

良率管理系統(tǒng)的價值不僅在于技術(shù)實現(xiàn)，更在于對半導(dǎo)體企業(yè)關(guān)鍵痛點的精確回應(yīng)。當(dāng)設(shè)計公司或制造工廠面臨測試數(shù)據(jù)分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統(tǒng)通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備，自動完成從數(shù)據(jù)采集到異常過濾的全流程治理。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫為多維度分析奠定基礎(chǔ)，使時間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ取?shù)關(guān)聯(lián)等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區(qū)域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結(jié)合FT與CP數(shù)據(jù)偏差，可追溯封裝環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險。SYL與SBL的自動計算功能，則為良率目標(biāo)達成提供量化依據(jù)。報表系統(tǒng)支持靈活配置與多格式導(dǎo)出，明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，推動YMS成為國產(chǎn)半導(dǎo)體提質(zhì)增效的可靠伙伴。北京自動化GDBC軟件Mapping Over Ink處理后的數(shù)據(jù)完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。

面對海量測試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數(shù)散點圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。

為滿足日益嚴(yán)苛的車規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測試階段引入三溫乃至多溫測試，已成為篩選高可靠性芯片的標(biāo)準(zhǔn)流程。這一測試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評估，有效剔除對環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測試數(shù)據(jù)中識別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風(fēng)險的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。

為應(yīng)對車規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開發(fā)了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個溫度點進行孤立判定的測試模式，轉(zhuǎn)而通過對同一芯片在不同溫度下的參數(shù)表現(xiàn)進行動態(tài)追蹤與關(guān)聯(lián)性分析，從而精確識別并剔除那些對環(huán)境過度敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品。 GDBC算法識別的聚類區(qū)域常指向設(shè)備或掩模問題，反饋工藝優(yōu)化方向。

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點，定制化成為提升系統(tǒng)價值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實際使用的測試平臺組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進行功能適配，例如針對特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯，或為高頻監(jiān)控場景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一，上層應(yīng)用則靈活可調(diào)，既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性，又滿足業(yè)務(wù)個性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系，確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付，定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價值共創(chuàng)過程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨特性。Mapping Over Ink數(shù)據(jù)處理流程全程自動化運行，大幅減少人工復(fù)核的人為干預(yù)。海南晶圓MappingOverInk處理軟件

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時自動觸發(fā)設(shè)備維護工單，實現(xiàn)預(yù)防性維護。四川半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)商

當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時，只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時CP漏電流異常升高，YMS可自動關(guān)聯(lián)兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時，減少試產(chǎn)浪費。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。四川半導(dǎo)體Mapping Inkless服務(wù)商

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經(jīng)驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結(jié)果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！