自動化Mapping Inkless工具

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報表工具，時間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。Mapping Over Ink處理減少人工復(fù)核負擔(dān)，提升質(zhì)量控制效率。自動化Mapping Inkless工具

面對國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數(shù)據(jù)格式，實現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動，精確識別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導(dǎo)出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續(xù)驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價值。內(nèi)蒙古半導(dǎo)體PAT服務(wù)上海偉諾信息科技Mapping Bin 轉(zhuǎn)換功能，可以將Wafer Map上指定坐標(biāo)的芯片進行Ink。

當(dāng)企業(yè)評估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時，功能覆蓋度與服務(wù)適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級配置選項，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務(wù)復(fù)雜度靈活調(diào)整?；A(chǔ)模塊滿足自動化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動過濾及定制化報表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標(biāo)準數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準化服務(wù)，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業(yè)在有限預(yù)算下仍能實現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具經(jīng)濟性與擴展性的YMS解決方案。

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價值在于運用統(tǒng)計方法，識別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規(guī)級認證標(biāo)準，不僅提供標(biāo)準PAT功能，更針對高可靠性應(yīng)用的嚴苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數(shù)進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測試的缺陷檢出率，將早期失效風(fēng)險遏制在封裝之前。這直接帶來了測試質(zhì)量的飛躍與測試成本的優(yōu)化，助力客戶輕松滿足車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品對質(zhì)量與可靠性的不懈追求。Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉(zhuǎn)換，滿足多樣化數(shù)據(jù)需求。

面對國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù)，通過內(nèi)置算法識別重復(fù)項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝波動點。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質(zhì)量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng)，助力構(gòu)建中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)。Mapping Over Ink處理方案支持高密度邏輯與模擬芯片應(yīng)用，覆蓋多品類半導(dǎo)體產(chǎn)品。海南MappingOverInk處理工具

SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。自動化Mapping Inkless工具

當(dāng)封測廠面臨多設(shè)備、多格式測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理的困境時，YMS系統(tǒng)通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預(yù)成本。標(biāo)準化數(shù)據(jù)庫實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，支持從時間趨勢到晶圓區(qū)域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點，強化過程質(zhì)量防線。靈活報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協(xié)同效率。系統(tǒng)報價覆蓋軟件授權(quán)、必要定制及全周期服務(wù)，確保投入產(chǎn)出比合理。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS功能，助力客戶實現(xiàn)高性價比的良率管理。自動化Mapping Inkless工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經(jīng)驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結(jié)果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！