中國(guó)臺(tái)灣自動(dòng)化MappingOverInk處理解決方案

當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費(fèi)數(shù)小時(shí)核對(duì)字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)解析引擎識(shí)別各類數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，檢測(cè)重復(fù)性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級(jí)。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識(shí)別與工藝優(yōu)化建議。這種自動(dòng)化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力，支撐客戶實(shí)現(xiàn)高效、可靠的良率管理。STACKED算法適用于多層結(jié)構(gòu)失效分析，解析層間關(guān)聯(lián)缺陷的分布特征。中國(guó)臺(tái)灣自動(dòng)化MappingOverInk處理解決方案

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場(chǎng)、溫度場(chǎng)及壓力場(chǎng)分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測(cè)試（CP）的制造流程中，對(duì)電性測(cè)試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對(duì)這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測(cè)試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。中國(guó)澳門MappingOverInk處理Mapping Over Ink處理的異常Die剔除決策具備完整數(shù)據(jù)留痕，確保處理過程透明可審計(jì)。

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。

芯片制造過程中，良率波動(dòng)若不能及時(shí)識(shí)別，可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報(bào)廢。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì)，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，可區(qū)分是設(shè)計(jì)問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報(bào)表工具按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng)，助力芯片制造企業(yè)構(gòu)建自主可控的質(zhì)量管理能力。GDBC算法利用聚類分析檢測(cè)空間聚類型失效模式，精確定位斑點(diǎn)劃痕類缺陷。

為提升晶圓測(cè)試（CP測(cè)試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測(cè)設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè)，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測(cè)，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)（如TSK、TEL、UF3000等）可識(shí)別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化，有效提升品質(zhì)與效率。DPAT模塊動(dòng)態(tài)調(diào)整閾值以適應(yīng)批次差異，分場(chǎng)景優(yōu)化測(cè)試限設(shè)定。北京MappingOverInk處理軟件

Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設(shè)備數(shù)據(jù)格式，支持跨平臺(tái)數(shù)據(jù)無縫對(duì)接。中國(guó)臺(tái)灣自動(dòng)化MappingOverInk處理解決方案

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn)，定制化成為提升系統(tǒng)價(jià)值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實(shí)際使用的測(cè)試平臺(tái)組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配，例如針對(duì)特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯，或?yàn)楦哳l監(jiān)控場(chǎng)景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一，上層應(yīng)用則靈活可調(diào)，既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性，又滿足業(yè)務(wù)個(gè)性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報(bào)表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系，確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付，定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價(jià)值共創(chuàng)過程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。中國(guó)臺(tái)灣自動(dòng)化MappingOverInk處理解決方案

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針，員工精誠(chéng)努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！