中國臺灣自動化MappingOverInk處理工具

在高頻測試場景下，重復提交或設備通信中斷常導致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計算準確性。YMS系統(tǒng)通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動掃描數(shù)據(jù)集，識別完全重復或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時檢測關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點并提示修正。該機制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過濾協(xié)同工作，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無偏。例如，當某批次CP測試因機臺故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動識別并保留有效片段，避免重復計數(shù)拉低整體良率。這種自動化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負擔，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一，持續(xù)強化其在復雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。STACKED算法適用于多層結(jié)構(gòu)失效分析，解析層間關(guān)聯(lián)缺陷的分布特征。中國臺灣自動化MappingOverInk處理工具

當封測廠每日面對來自數(shù)十臺測試機臺的海量異構(gòu)數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)手工匯總方式已難以滿足實時質(zhì)量管控需求。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數(shù)據(jù)，剔除重復、缺失與異常記錄，構(gòu)建高可信度的數(shù)據(jù)底座。標準化數(shù)據(jù)庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區(qū)域識別系統(tǒng)性缺陷，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統(tǒng)可聯(lián)動CP數(shù)據(jù)判斷是否為封裝環(huán)節(jié)引入問題，縮短排查周期達數(shù)小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數(shù)據(jù)驅(qū)動質(zhì)量改進的關(guān)鍵工具。中國臺灣晶圓GDBC平臺Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提供售前咨詢與售后標準化服務，保障客戶實施體驗。

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設計、工藝與質(zhì)量團隊可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動文化的基礎(chǔ)設施。

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時，YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解決方案。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數(shù)據(jù)，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。通過標準化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質(zhì)量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)打磨YMS系統(tǒng)，助力客戶構(gòu)建自主可控的良率管理能力。Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，便于客戶驗證和審計分析結(jié)果。

在封測工廠的日常運營中，良率波動往往源于測試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時識別。YMS系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數(shù)據(jù)，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常數(shù)據(jù)過濾，確保后續(xù)分析基于準確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過標準化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與卡控機制，進一步強化了質(zhì)量防線。靈活的報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)深耕半導體軟件領(lǐng)域，其YMS系統(tǒng)已成為封測企業(yè)實現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)管理的重要支撐。工藝工程師基于GDBC聚類結(jié)果優(yōu)化制程參數(shù)，提升制造良率水平。中國臺灣晶圓GDBC平臺

UPLY處理針對特定層間關(guān)聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。中國臺灣自動化MappingOverInk處理工具

當企業(yè)評估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時，功能覆蓋度與服務適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級配置選項，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務復雜度靈活調(diào)整。基礎(chǔ)模塊滿足自動化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動過濾及定制化報表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標準數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標準化服務，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業(yè)在有限預算下仍能實現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具經(jīng)濟性與擴展性的YMS解決方案。中國臺灣自動化MappingOverInk處理工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務來贏得市場，我們一直在路上！