傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設(shè)定固定閾值,難以適應(yīng)產(chǎn)品迭代或工藝波動(dòng)。YMS系統(tǒng)基于歷史測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算SYL(良率下限)與SBL(良率控制線),并根據(jù)統(tǒng)計(jì)規(guī)律動(dòng)態(tài)調(diào)整控制邊界。當(dāng)某批次實(shí)際良率跌破SBL時(shí),系統(tǒng)立即觸發(fā)告警,通知質(zhì)量人員介入;若連續(xù)多批接近SYL,則提示需啟動(dòng)工藝評(píng)審。該機(jī)制將質(zhì)量防線前置,防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié),有效控制報(bào)廢成本。自動(dòng)計(jì)算替代經(jīng)驗(yàn)估算,確保卡控標(biāo)準(zhǔn)客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動(dòng)卡控作為YMS的關(guān)鍵功能,支撐客戶實(shí)現(xiàn)過(guò)程質(zhì)量的主動(dòng)管理。Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,降低客戶投訴率。福建晶圓Mapping Inkless軟件

半導(dǎo)體制造過(guò)程中,良率數(shù)據(jù)的時(shí)效性與準(zhǔn)確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)采集ASL1000、SineTest、MS7000等測(cè)試平臺(tái)生成的多源數(shù)據(jù),完成端到端的數(shù)據(jù)治理,消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù),使生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)能夠從時(shí)間軸觀察良率波動(dòng)規(guī)律,或聚焦特定晶圓區(qū)域識(shí)別系統(tǒng)性缺陷,從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與閾值卡控,為過(guò)程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時(shí),系統(tǒng)內(nèi)置的報(bào)表引擎可一鍵生成周期性分析簡(jiǎn)報(bào),并以PPT、Excel或PDF形式輸出,便于管理層掌握產(chǎn)線健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的管理模式,明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導(dǎo)體行業(yè)系統(tǒng)開(kāi)發(fā),其YMS產(chǎn)品正助力制造企業(yè)邁向精細(xì)化運(yùn)營(yíng)。上??梢暬疨AT工具多輪重測(cè)數(shù)據(jù)動(dòng)態(tài)更新Mapping Over Ink處理的Ink決策,確保篩選結(jié)果實(shí)時(shí)優(yōu)化。

作為國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)的重要建設(shè)者,YMS系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)始終圍繞真實(shí)生產(chǎn)痛點(diǎn)展開(kāi)。系統(tǒng)兼容主流Tester平臺(tái),自動(dòng)處理stdf、csv、log等十余種數(shù)據(jù)格式,完成從采集、清洗到整合的全流程自動(dòng)化,消除信息孤島。其分析引擎支持多維度交叉比對(duì),例如將晶圓邊緣良率偏低現(xiàn)象與刻蝕設(shè)備參數(shù)日志關(guān)聯(lián),輔助工程師精確歸因。SYL/SBL卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制點(diǎn),實(shí)現(xiàn)過(guò)程質(zhì)量前置管理。配套的報(bào)表工具可按模板一鍵生成周期報(bào)告,大幅提升跨部門(mén)協(xié)同效率。更重要的是,系統(tǒng)背后有完整的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)體系支撐,確保價(jià)值落地。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累,使YMS成為兼具技術(shù)深度與實(shí)施可靠性的國(guó)產(chǎn)替代選擇。
面對(duì)市場(chǎng)上良率管理系統(tǒng)供應(yīng)商良莠不齊的局面,技術(shù)自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標(biāo)準(zhǔn)。真正有效的系統(tǒng)需同時(shí)支持多品牌Tester設(shè)備、處理異構(gòu)數(shù)據(jù)格式,并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的數(shù)據(jù)接口,覆蓋stdf、csv、log等十余種格式,實(shí)現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時(shí)間趨勢(shì)與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?,還能關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,精確定位根因。更重要的是,系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐,確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力,使YMS在國(guó)產(chǎn)替代進(jìn)程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),持續(xù)驗(yàn)證其作為可靠供應(yīng)商的技術(shù)實(shí)力與服務(wù)承諾。GDBC算法利用聚類分析檢測(cè)空間聚類型失效模式,精確定位斑點(diǎn)劃痕類缺陷。
面對(duì)工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來(lái)自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測(cè)試數(shù)據(jù),通過(guò)自動(dòng)化清洗與異常過(guò)濾,構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長(zhǎng)期趨勢(shì),或從空間維度比對(duì)不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異,精確識(shí)別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對(duì)WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿足從車間班組長(zhǎng)到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動(dòng)工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量躍升。參數(shù)漂移趨勢(shì)在PAT分析中清晰呈現(xiàn),實(shí)現(xiàn)早期風(fēng)險(xiǎn)預(yù)警。四川晶圓MappingOverInk處理系統(tǒng)定制
Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)判定,確保車規(guī)級(jí)芯片可靠性。福建晶圓Mapping Inkless軟件
Mapping Over Ink是一套在晶圓測(cè)試(CP)后,對(duì)電性測(cè)試圖譜進(jìn)行智能分析、處理,并直接驅(qū)動(dòng)探針臺(tái)對(duì)特定芯片進(jìn)行噴墨打點(diǎn)的自動(dòng)化系統(tǒng)。它將各種分析算法(如ZPAT, GDBN)得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動(dòng)——將不良品標(biāo)記出來(lái),使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點(diǎn)是預(yù)見(jiàn)性地剔除所有潛在缺陷芯片,而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。
上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商,致力于為國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與晶圓測(cè)試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺(tái)集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊,旨在通過(guò)多重維度的智能篩選,構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線,有效地提升用戶的晶圓測(cè)試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 福建晶圓Mapping Inkless軟件
上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中,一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取,不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度,多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑,成績(jī)讓我們喜悅,但不會(huì)讓我們止步,殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志,和諧溫馨的工作環(huán)境,富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開(kāi)拓創(chuàng)新,勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力,攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái),回首過(guò)去,我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜,相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍,我們更要明確自己的不足,做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備,要不畏困難,激流勇進(jìn),以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家,共同走向輝煌回來(lái)!
晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno... [詳情]
2026-01-18在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測(cè)廠面臨多源測(cè)試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí),YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解... [詳情]
2026-01-18當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測(cè)試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)... [詳情]
2026-01-17面對(duì)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體制造對(duì)自主可控軟件的迫切需求,良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系... [詳情]
2026-01-17良率波動(dòng)若不能及時(shí)干預(yù),可能造成數(shù)百萬(wàn)級(jí)的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程,即時(shí)采集并清洗來(lái)自多種... [詳情]
2026-01-17