在封測(cè)工廠(chǎng)的日常運(yùn)營(yíng)中,良率波動(dòng)往往源于測(cè)試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時(shí)識(shí)別。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái),高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測(cè)試數(shù)據(jù),并完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常數(shù)據(jù)過(guò)濾,確保后續(xù)分析基于準(zhǔn)確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類(lèi),系統(tǒng)支持從時(shí)間序列追蹤良率趨勢(shì),或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?,快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制,進(jìn)一步強(qiáng)化了質(zhì)量防線(xiàn)。靈活的報(bào)表工具可按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,滿(mǎn)足從產(chǎn)線(xiàn)到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái),持續(xù)深耕半導(dǎo)體軟件領(lǐng)域,其YMS系統(tǒng)已成為封測(cè)企業(yè)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)管理的重要支撐。Mapping Over Ink處理助力國(guó)產(chǎn)軟件生態(tài)建設(shè),推動(dòng)技術(shù)自主可控。西藏自動(dòng)化PAT工具

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù),通過(guò)在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片,從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過(guò)程中需要通過(guò)疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例,通過(guò)特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。
為助力客戶(hù)應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn),上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶(hù)高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力,使其能夠通過(guò)一套高度可配置的流程,精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片,從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的智能質(zhì)量防線(xiàn)。 中國(guó)澳門(mén)Mapping Inkless系統(tǒng)定制Mapping Over Ink處理系統(tǒng)持續(xù)優(yōu)化以適配先進(jìn)制程需求,保持技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

面對(duì)工廠(chǎng)級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來(lái)自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測(cè)試數(shù)據(jù),通過(guò)自動(dòng)化清洗與異常過(guò)濾,構(gòu)建全廠(chǎng)統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長(zhǎng)期趨勢(shì),或從空間維度比對(duì)不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異,精確識(shí)別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對(duì)WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿(mǎn)足從車(chē)間班組長(zhǎng)到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動(dòng)工廠(chǎng)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量躍升。
當(dāng)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時(shí),傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時(shí),還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程,將來(lái)自ETS364、STS8200、TR6850等設(shè)備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ),構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎(chǔ)上,結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試階段的參數(shù)變化,系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關(guān)聯(lián),輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級(jí)缺陷熱力圖、批次良率走勢(shì)一目了然,明顯縮短問(wèn)題響應(yīng)周期。報(bào)表功能支持按需定制并導(dǎo)出多種辦公格式,提升跨部門(mén)協(xié)同效率。SYL/SBL的實(shí)時(shí)卡控能力,則有效預(yù)防批量性質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本,以質(zhì)取勝”的宗旨,致力于打造適配國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體生態(tài)的智能良率管理工具。Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對(duì)齊,確保測(cè)試結(jié)果可追溯。
每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),內(nèi)容涵蓋良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo),并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報(bào),質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘,客戶(hù)審計(jì)則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動(dòng)化流程消除手工匯總誤差,確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報(bào)告生成時(shí)間從數(shù)小時(shí)壓縮至分鐘級(jí),大幅提升跨部門(mén)協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)靈活報(bào)表工具,讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)??蛻?hù)可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對(duì)比分析,優(yōu)化生產(chǎn)工藝。陜西可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格
Mapping Over Ink處理的異常Die剔除決策具備完整數(shù)據(jù)留痕,確保處理過(guò)程透明可審計(jì)。西藏自動(dòng)化PAT工具
晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見(jiàn)的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后,依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對(duì)缺陷進(jìn)行分類(lèi),生成色彩漸變的熱力圖,直觀(guān)呈現(xiàn)中心、過(guò)渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶(hù)可對(duì)比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn),識(shí)別是否為光刻對(duì)焦偏差或刻蝕均勻性問(wèn)題所致。疊加時(shí)間維度后,還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析,使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”,明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求,將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。西藏自動(dòng)化PAT工具
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo),有組織有體系的公司,堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明,攜手共畫(huà)藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶(hù)粉絲源,也收獲了良好的用戶(hù)口碑,為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ),也希望未來(lái)公司能成為*****,努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量,我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息,斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌,共創(chuàng)佳績(jī),一直以來(lái),公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針,員工精誠(chéng)努力,協(xié)同奮取,以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏(yíng)得市場(chǎng),我們一直在路上!
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2026-01-18晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR685... [詳情]
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2026-01-18在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測(cè)廠(chǎng)面臨多源測(cè)試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí),YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解... [詳情]
2026-01-18當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測(cè)試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)... [詳情]
2026-01-17