上海多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來(lái)了挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開(kāi)介紹?？藙诘率静ㄆ鱑SB2.0測(cè)試方案；上海多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試

Type - C的接口是雙面的，也就是同 一 時(shí)刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引腳上會(huì)有USB3 . 1信號(hào)輸出，至于哪 一面有信號(hào)輸出，取決于插入的方向。如圖3 . 18所 示，默認(rèn)情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻 Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同，只有CCl或者CC2會(huì)有連接，通過(guò)檢測(cè)CCl或者CC2上的 電壓變化，DFP和UFP設(shè)備就能感知到對(duì)端的插入從而啟動(dòng)協(xié)商過(guò)程。

信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試過(guò)程中，由于被測(cè)件連接的是測(cè)試夾具，并沒(méi)有真實(shí)地對(duì)端設(shè)備插入，這就需要人為在測(cè)試夾具上模擬電阻的上下拉來(lái)欺騙被測(cè)件輸出信號(hào) 遼寧通信USB測(cè)試USB3.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試報(bào)告；

USB測(cè)試

USB3.x的接收容限測(cè)試USB3.x規(guī)范除了對(duì)發(fā)送端的信號(hào)質(zhì)量有要求外，對(duì)于接收端也有一定的抖動(dòng)容限要求。接收抖動(dòng)容限的測(cè)試方法在被測(cè)件環(huán)回(loopback)模式下進(jìn)行誤碼率測(cè)量，即用高性能誤碼儀(BERT)的碼型發(fā)生部分產(chǎn)生精確可控的帶抖動(dòng)的信號(hào)，通過(guò)測(cè)試夾具送給被測(cè)件的接收端，被測(cè)件再把接收到的數(shù)據(jù)環(huán)回后通過(guò)其Tx送回誤碼儀，由誤碼儀測(cè)量環(huán)回來(lái) 的數(shù)據(jù)的誤碼率。USB3.x測(cè)試規(guī)范對(duì)于接收容限的測(cè)試原理。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū)

a)USB-IFUSB4ETT軟件下圖是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的實(shí)際界面，它可以通過(guò)USB4ElectricalTestT；手動(dòng)控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface；自動(dòng)化編程控制)兩種方式，使被測(cè)設(shè)備產(chǎn)生必須的測(cè)試碼型。

b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信號(hào)為了補(bǔ)償有損鏈路帶來(lái)的損耗，定義了16種發(fā)送端均衡(Preset0~Preset15)，測(cè)試規(guī)范規(guī)定在做發(fā)送端測(cè)試前，需要對(duì)每一個(gè)接口的每一對(duì)高速信號(hào)支持的每一種速率分別做Preset的校準(zhǔn)，選擇能夠提供值小DDJ值的Preset值，把它設(shè)定到被測(cè)體的固件里，作為后續(xù)驗(yàn)證的基礎(chǔ)。 USB眼圖測(cè)試接口測(cè)試；

USB接口測(cè)試USB3.0測(cè)試USB-IF標(biāo)準(zhǔn)隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測(cè)試變得越來(lái)越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測(cè)試。是獲得認(rèn)可的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。為滿足行業(yè)發(fā)展的需要，提供的USB測(cè)試服務(wù)，包括USB一致性測(cè)試、USB性能測(cè)試以及USB產(chǎn)品調(diào)試實(shí)驗(yàn)室租賃服務(wù)。

測(cè)試服務(wù)USB測(cè)試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測(cè)試外部裝置主機(jī)內(nèi)插卡集線器系統(tǒng)集成電路電線組件連接器USBOTG USB主機(jī)的低速和全速信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí)的連接；湖北USB測(cè)試檢查

USB3.0的總線架構(gòu)展示？上海多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試

USB2.0技術(shù)已被的市場(chǎng)接受，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開(kāi)新天地，包括全動(dòng)態(tài)視訊至輔助性的、只有錢(qián)包大小的硬盤(pán)機(jī)。但是，隨著資料速率的急速升高，也出現(xiàn)了新的測(cè)試和量測(cè)方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來(lái)了許多好處，但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來(lái)了各種新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。特別是在訊號(hào)品質(zhì)問(wèn)題方面，如電路板的布局、抖動(dòng)、上升和下降時(shí)間、電磁場(chǎng)干擾、噪聲，和接地噪聲等，都已成為需待解決的設(shè)計(jì)問(wèn)題。保持訊號(hào)質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格，并獲得USB2.0「認(rèn)證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一。訊號(hào)質(zhì)量測(cè)試包括:?眼圖測(cè)試?信號(hào)速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動(dòng)?KJ抖動(dòng)?連續(xù)抖動(dòng)?單調(diào)測(cè)試（適用于高速）?漲落時(shí)間 上海多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試