PCI-E測試USB測試DDR測試

USB接口測試USB3.0測試USB-IF標準隨著USB技術(shù)在消費電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標準的USB認證標志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進行USB測試。是獲得認可的測試實驗室，完全符合USB-IF的標準，可幫助制造商獲得USB認證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標志。為滿足行業(yè)發(fā)展的需要，提供的USB測試服務(wù)，包括USB一致性測試、USB性能測試以及USB產(chǎn)品調(diào)試實驗室租賃服務(wù)。

測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測試外部裝置主機內(nèi)插卡集線器系統(tǒng)集成電路電線組件連接器USBOTG USB3.0信號和協(xié)議測試？PCI-E測試USB測試DDR測試

每一代USB新的標準推出，都考慮到了對前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強的供電能力及對多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實現(xiàn)。由于USB總線的信號速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復雜，所以給設(shè)計和測試驗證工作帶來了挑戰(zhàn)，對于測試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細介紹其相關(guān)的電氣性能測試方法。由于涉及的標準眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標準統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標準分開介紹。數(shù)字信號USB測試方案USB協(xié)輝提供的信號質(zhì)量分析軟件；

USB測試

USB3.x的接收容限測試USB3.x規(guī)范除了對發(fā)送端的信號質(zhì)量有要求外，對于接收端也有一定的抖動容限要求。接收抖動容限的測試方法在被測件環(huán)回(loopback)模式下進行誤碼率測量，即用高性能誤碼儀(BERT)的碼型發(fā)生部分產(chǎn)生精確可控的帶抖動的信號，通過測試夾具送給被測件的接收端，被測件再把接收到的數(shù)據(jù)環(huán)回后通過其Tx送回誤碼儀，由誤碼儀測量環(huán)回來 的數(shù)據(jù)的誤碼率。USB3.x測試規(guī)范對于接收容限的測試原理。

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區(qū)

測試過程Tektronix示波器對于USB2.0這類接口的測試都有非常完善的測試解決方案，這些方案都是標準流程化的，只要進入到軟件測試界面即可按照流程圖一步一步的往下進行測試。下面是測試時的相關(guān)設(shè)置和注意事項：在測試前，首先要預熱、校準示波器（大約20分鐘）、線纜需要做de-skew。這一步非常的關(guān)鍵，特別是線纜做de-skew，因為很多時候線纜與線纜之間有一些偏差，如果不做de-skew就會導致在差分信號的正端和負端引入系統(tǒng)誤差。然后就開啟測試USB2.0軟件TDSUSB2TestApp，

USB3.0一致性測試內(nèi)容；

自1995年USB1 .0 的規(guī)范發(fā)布以來， USB(Universal Serial Bus)接口標準經(jīng)過了20多  年的持續(xù)發(fā)展和更新，已經(jīng)成為PC和外設(shè)連接使用的接口。USB歷經(jīng)了多年的發(fā) 展，從代的USB1 .0低速(Low Speed) 、USB1 . 1全速(Full Speed)標準，逐漸演進到第 2代的USB2 .0高速(High Speed)標準和第3代的USB3 .0超高速(Super Speed)標準。這   些標準目前都已經(jīng)得到的應(yīng)用。

后來，為了應(yīng)對eSATA 、ThunderBolt等標準對USB標準的威脅， USB協(xié)會又分別在  2013年和2017年發(fā)布了USB3. 1及USB3.2的標準。在USB3. 1標準中新定義了10Gbps 速率以及對Type-C接口的支持；在USB3.2標準中，又基于Type-C接口提供了對X2模 式的支持，可以通過收發(fā)方向各捆綁2條10Gbps的鏈路實現(xiàn)20Gbps的數(shù)據(jù)傳輸。而新 的USB4.0標準已經(jīng)于2019年發(fā)布，可以通過捆綁2條20Gbps的鏈路實現(xiàn)40Gbps的接 口速率。表3. 1是USB各代總線的技術(shù)對比。

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室

地    址： 深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區(qū) 什么是usb3.1的標準？測試服務(wù)USB測試哪里買

USB3.0電纜、連接器測試；PCI-E測試USB測試DDR測試

USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試在進行USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試時，會要求測試對象發(fā)出特定的測試碼型，用實時示波器對該碼型進行眼圖分析，并測量信號的幅度、抖動、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時間等。雖然看起來好像比較簡單，但實際上USB3.x針對超高速部分的信號測試與傳統(tǒng)USB2.0的測試方法有較大的不同，包括很多算法的處理和注意事項。首先，由于USB3.x信號速率很高，且信號的幅度更小，因此測試中需要更高帶寬的示波器。對于5Gbps信號的測試，推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器；對于10Gbps信號的測試，推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次，對于USB3.x發(fā)送端測試，其測試的參考點不是像USB2.0那樣只是在發(fā)送端的連接器上進行測試，還需要測試經(jīng)過“一致性通道”(ComplianceChannel)或“參考通道”(ReferenceChannel)傳輸，并經(jīng)參考均衡器均衡后的信號質(zhì)量。通常把直接在發(fā)送端連接器上進行的測試叫作“ShortChannel”測試，把經(jīng)過傳輸通道進行的測試叫作“LongChannel”測試。PCI-E測試USB測試DDR測試