晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后,依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對(duì)缺陷進(jìn)行分類,生成色彩漸變的熱力圖,直觀呈現(xiàn)中心、過(guò)渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對(duì)比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn),識(shí)別是否為光刻對(duì)焦偏差或刻蝕均勻性問(wèn)題所致。疊加時(shí)間維度后,還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析,使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”,明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求,將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。YMS毫秒級(jí)處理實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)流,分析結(jié)果同步更新,工藝波動(dòng)響應(yīng)快人一步。江蘇半導(dǎo)體測(cè)封良率管理系統(tǒng)開發(fā)商

上海偉諾信息科技有限公司是專注于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域的良率解決方案提供商。我們致力于為客戶提供專業(yè)的良率分析與管控系統(tǒng),通過(guò)整合制造端、測(cè)試端與品控端的多源數(shù)據(jù),構(gòu)建從數(shù)據(jù)到洞察、從洞察到?jīng)Q策的完整閉環(huán)。我們的系統(tǒng)賦能用戶精確定位工藝缺陷、優(yōu)化制程參數(shù),從產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)工藝到設(shè)備效能等多個(gè)維度實(shí)現(xiàn)良率的系統(tǒng)化改善與持續(xù)提升。 上海半導(dǎo)體良率管理系統(tǒng)解決方案測(cè)試結(jié)果同步Y(jié)MS即啟動(dòng)分析,良率問(wèn)題響應(yīng)速度從天級(jí)縮短至小時(shí)級(jí)。

封測(cè)廠常運(yùn)行邏輯芯片、存儲(chǔ)器、功率器件等多條工藝線,測(cè)試參數(shù)與良率標(biāo)準(zhǔn)各不相同。YMS通過(guò)靈活配置,為每條線建立單獨(dú)但統(tǒng)一的數(shù)據(jù)處理邏輯:自動(dòng)識(shí)別該線所用Tester類型(如Juno用于功率器件,CTS8280用于模擬芯片),適配其數(shù)據(jù)格式,并設(shè)定專屬SYL/SBL閾值。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持橫向比較不同工藝線的良率穩(wěn)定性,幫助管理層識(shí)別共性瓶頸。晶圓區(qū)域熱力圖亦可按工藝線定制分析維度,如存儲(chǔ)器關(guān)注邊緣單元失效,邏輯芯片側(cè)重中心區(qū)域短路。這種“統(tǒng)一體系、差異策略”的管理模式,兼顧效率與精確。上海偉諾信息科技有限公司深入理解封測(cè)場(chǎng)景多樣性,使YMS成為多工藝協(xié)同管理的可靠平臺(tái)。
在評(píng)估良率管理系統(tǒng)投入時(shí),企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購(gòu)成本,更是長(zhǎng)期使用中的效率回報(bào)與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案,涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運(yùn)維支持,確保部署后穩(wěn)定運(yùn)行與功能演進(jìn)。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備,處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù),大幅減少人工清洗與整合工作量,降低隱性人力成本。透明的報(bào)價(jià)結(jié)構(gòu)避免隱性收費(fèi),使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時(shí),系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與卡控、多維度良率分析及靈活報(bào)表導(dǎo)出功能,直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦能”的模式,明顯優(yōu)化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái),始終以合理定價(jià)與高價(jià)值交付贏得客戶信賴。YMS采用標(biāo)準(zhǔn)化接口設(shè)計(jì),簡(jiǎn)化與第三方系統(tǒng)對(duì)接流程,大幅降低集成復(fù)雜度。

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設(shè)定固定閾值,難以適應(yīng)產(chǎn)品迭代或工藝波動(dòng)。YMS系統(tǒng)基于歷史測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算SYL(良率下限)與SBL(良率控制線),并根據(jù)統(tǒng)計(jì)規(guī)律動(dòng)態(tài)調(diào)整控制邊界。當(dāng)某批次實(shí)際良率跌破SBL時(shí),系統(tǒng)立即觸發(fā)告警,通知質(zhì)量人員介入;若連續(xù)多批接近SYL,則提示需啟動(dòng)工藝評(píng)審。該機(jī)制將質(zhì)量防線前置,防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié),有效控制報(bào)廢成本。自動(dòng)計(jì)算替代經(jīng)驗(yàn)估算,確??貥?biāo)準(zhǔn)客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動(dòng)卡控作為YMS的關(guān)鍵功能,支撐客戶實(shí)現(xiàn)過(guò)程質(zhì)量的主動(dòng)管理。自動(dòng)化處理替代手工操作,YMS將良率異常排查時(shí)間從小時(shí)級(jí)壓縮至分鐘級(jí)。山東國(guó)產(chǎn)YMS報(bào)價(jià)
圖形化界面+智能標(biāo)簽,YMS讓非專業(yè)人員也能快速看懂良率趨勢(shì)與缺陷分布。江蘇半導(dǎo)體測(cè)封良率管理系統(tǒng)開發(fā)商
良率管理服務(wù)的價(jià)值體現(xiàn)在全生命周期的技術(shù)陪伴與問(wèn)題解決能力。YMS系統(tǒng)不僅提供數(shù)據(jù)采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺(tái),更通過(guò)售前技術(shù)咨詢、售中合理化方案定制與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù),確保系統(tǒng)與客戶實(shí)際流程深度契合。當(dāng)客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設(shè)備后,系統(tǒng)自動(dòng)處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數(shù)據(jù),完成異常檢測(cè)與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)。管理者可通過(guò)圖表直觀掌握良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷分布及WAT/CP/FT參數(shù)關(guān)聯(lián)性,快速制定改進(jìn)措施。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與閾值監(jiān)控,進(jìn)一步提升過(guò)程穩(wěn)定性。靈活的報(bào)表工具支持多格式導(dǎo)出,打通從車間到?jīng)Q策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務(wù)體系支撐YMS落地,持續(xù)助力半導(dǎo)體企業(yè)邁向高質(zhì)量發(fā)展。江蘇半導(dǎo)體測(cè)封良率管理系統(tǒng)開發(fā)商
上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中,一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取,不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度,多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑,成績(jī)讓我們喜悅,但不會(huì)讓我們止步,殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志,和諧溫馨的工作環(huán)境,富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新,勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力,攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái),回首過(guò)去,我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜,相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍,我們更要明確自己的不足,做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備,要不畏困難,激流勇進(jìn),以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家,共同走向輝煌回來(lái)!
晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率,YMS系統(tǒng)通過(guò)全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并... [詳情]
2026-01-20當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí)... [詳情]
2026-01-19當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí)... [詳情]
2026-01-19晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原... [詳情]
2026-01-19良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成... [詳情]
2026-01-19面對(duì)工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來(lái)自Juno、... [詳情]
2026-01-19