四川國產(chǎn)YMS開發(fā)方案

當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時，每臺設(shè)備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與接口協(xié)議，無需定制開發(fā)即可完成數(shù)據(jù)采集與格式轉(zhuǎn)換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復(fù)性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數(shù)據(jù)準確完整。標準化數(shù)據(jù)庫對所有來源數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類存儲，為后續(xù)良率分析提供一致基礎(chǔ)。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設(shè)備環(huán)境下的集成復(fù)雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際設(shè)備生態(tài)，持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性?；跉v史數(shù)據(jù)，YMS自動計算SYL/SBL，還支持按產(chǎn)品特性動態(tài)調(diào)整卡控閾值。四川國產(chǎn)YMS開發(fā)方案

良率管理系統(tǒng)已成為現(xiàn)代半導體制造中提升質(zhì)量管控能力的關(guān)鍵支撐。面對來自ETS88、93k、J750、Chroma等各類測試平臺產(chǎn)生的stdf、csv、log、txt等多格式數(shù)據(jù)，系統(tǒng)通過自動化采集、解析與清洗，有效識別重復(fù)、缺失及異常信息，保障數(shù)據(jù)的完整性與準確性?；跇藴驶瘮?shù)據(jù)庫，系統(tǒng)實現(xiàn)對良率數(shù)據(jù)的統(tǒng)一分類管理，并支持從時間趨勢、晶圓區(qū)域分布等多個維度進行缺陷分析與監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)變化，可精確定位影響良率的根本原因。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，明顯提升管理效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終聚焦半導體行業(yè)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)助力企業(yè)實現(xiàn)高效、智能的良率管理。山東國產(chǎn)YMS開發(fā)方案YMS實現(xiàn)良率管理全流程自主可控，減少對外部工具依賴，數(shù)據(jù)掌控在手里。

半導體設(shè)計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實現(xiàn)時間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治觯€能通過WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計風險，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據(jù)；靈活報表引擎則支持按項目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導入與實時測試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標準數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數(shù)小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。YMS依托標準化數(shù)據(jù)庫，把不同Tester、不同格式的測試數(shù)據(jù)整合，納入統(tǒng)一管理體系。

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報表工具，時間維度分析結(jié)果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。為保障分析準確性，YMS將數(shù)據(jù)缺失性檢測列為關(guān)鍵——自動掃描多源數(shù)據(jù)，標記缺失字段并預(yù)警。山東國產(chǎn)YMS開發(fā)方案

封測廠通過YMS集中管理多條工藝線的測試數(shù)據(jù)，告別分散存儲，實現(xiàn)統(tǒng)一監(jiān)控與分析。四川國產(chǎn)YMS開發(fā)方案

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實時匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。四川國產(chǎn)YMS開發(fā)方案

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導下，全體上下，團結(jié)一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！