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      企業(yè)商機
      DDR測試基本參數(shù)
      • 品牌
      • 克勞德
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      • DDR測試
      DDR測試企業(yè)商機


      DDR測試

      DDR4/5的協(xié)議測試除了信號質(zhì)量測試以外,有些用戶還會關心DDR總線上真實讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確,以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等,這時就需要進行相關的協(xié)議測試。DDR的總線寬度很寬,即使數(shù)據(jù)線只有16位,加上地址、時鐘、控制信號等也有30多根線,更寬位數(shù)的總線甚至會用到上百根線。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進行同時捕獲并進行協(xié)議分析,適合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測試的基本方法是通過相應的探頭把被測信號引到邏輯分析儀,在邏輯分析儀中運行解碼軟件進行協(xié)議驗證和分析。 協(xié)助DDR有那些工具測試;北京DDR測試修理

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      DDR測試

      由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會達到3.2GT/s以上,DDR5的數(shù)據(jù)速率更高,所以對邏輯分析儀的要求也很高,需要狀態(tài)采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數(shù)據(jù)速率。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀,相應的適配器要經(jīng)過嚴格測試,確保在其標稱的速率下不會因為信號質(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。 北京DDR測試修理DDR在信號測試中解決的問題有那些;

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      DDR測試

      DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的,但是通常DDR芯片采用BGA封裝,引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉(zhuǎn)接板的方式,其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳處的信號質(zhì)量,一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數(shù)模型文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據(jù)實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數(shù),來計算期望位置處的信號波形,再對這個信號做進一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計。圖5.15展示了典型的DDR4和DDR5信號質(zhì)量測試環(huán)境,以及在示波器中進行去嵌入操作的界面。

      DDR測試

      內(nèi)存條測試對內(nèi)存條測試的要求是千差萬別的。DDR內(nèi)存條的制造商假定已經(jīng)進行過芯片級半導體故障的測試,因而他們的測試也就集中在功能執(zhí)行和組裝錯誤方面。通過采用DDR雙列直插內(nèi)存條和小型雙列直插內(nèi)存條,可以有三種不同內(nèi)存條測試儀方案:雙循環(huán)DDR讀取測試。這恐怕是簡單的測試儀方案。大多數(shù)的測試儀公司一般對他們現(xiàn)有的SDR測試儀作一些很小的改動就將它們作為DDR測試儀推出。SDR測試儀的寫方式是將同一數(shù)據(jù)寫在連續(xù)排列的二個位上。在讀取過程中,SDR測試儀能首先讀DDR內(nèi)存條的奇數(shù)位數(shù)據(jù)。然后,通過將數(shù)據(jù)鎖存平移半個時鐘周期,由第二循環(huán)讀偶數(shù)位。這使得測試儀能完全訪問DDR內(nèi)存單元。該方法沒有包括真正的突發(fā)測試,而且也不是真正的循環(huán)周期測試。


      DDR協(xié)議檢查后生成的測試報告;

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      對于DDR2-800,這所有的拓撲結(jié)構(gòu)都適用,只是有少許的差別。然而,也是知道的,菊花鏈式拓撲結(jié)構(gòu)被證明在SI方面是具有優(yōu)勢的。對于超過兩片的SDRAM,通常,是根據(jù)器件的擺放方式不同而選擇相應的拓撲結(jié)構(gòu)。圖3顯示了不同擺放方式而特殊設計的拓撲結(jié)構(gòu),在這些拓撲結(jié)構(gòu)中,只有A和D是適合4層板的PCB設計。然而,對于DDR2-800,所列的這些拓撲結(jié)構(gòu)都能滿足其波形的完整性,而在DDR3的設計中,特別是在1600Mbps時,則只有D是滿足設計的。DDR3信號質(zhì)量自動測試軟件;機械DDR測試工廠直銷

      主流DDR內(nèi)存標準的比較;北京DDR測試修理

      DDR5發(fā)送端測試隨著信號速率的提升,SerDes技術開始在DDR5中采用,如會采用DFE均衡器改善接收誤碼率,另外DDR總線在發(fā)展過程中引入訓練機制,不再是簡單的要求信號間的建立保持時間,在DDR4的時始使用眼圖的概念,在DDR5時代,引入抖動成分概念,從成因上區(qū)分解Rj,Dj等,對芯片或系統(tǒng)設計提供更具體的依據(jù);在抖動的參數(shù)分析上,也增加了一些新的抖動定義參數(shù),并有嚴苛的測量指標。針對這些要求,提供了完整的解決方案。UXR示波器,配合D9050DDRC發(fā)射機一致性軟件,及高阻RC探頭MX0023A,及Interposer,可以實現(xiàn)對DDR信號的精確表征。北京DDR測試修理

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      一種ddr4內(nèi)存信號測試方法、裝置及存儲介質(zhì)技術領域1.本發(fā)明涉及計算機測試技術領域,尤其是指一種ddr4內(nèi)存信號測試方法、裝置及存儲介質(zhì)。背景技術:2.為保證服務器的平穩(wěn)運行以及服務器ddr4內(nèi)存的完好使用,測量服務器內(nèi)存的信號完整性是否符合標準已經(jīng)成了服務器研發(fā)過程中必不可少的重要流程。目前服務器主流都是適用ddr4內(nèi)存,為了保證數(shù)據(jù)的安全性和可靠性,ddr4鏈路的測試對服務器存儲性能評估有著至關重要的影響。3.目前服務器ddr4信號的測試無法進行正常工作狀態(tài)的讀寫分離,只能利用主控芯片進行讀寫命令來進行相應讀或?qū)懙臏y試,效率較低且不能完全反映正常工作狀態(tài)下的波形,在信號完整性測試上有比較...

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