USB測試DDR測試執(zhí)行標準

DDR測試

在進行接收容限測試時，需要用到多通道的誤碼儀產生帶壓力的DQ、DQS等信號。測試中被測件工作在環(huán)回模式，DQ引腳接收的數據經被測件轉發(fā)并通過LBD引腳輸出到誤碼儀的誤碼檢測端口。在測試前需要用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準，如DQS與DQ的時延校準、信號幅度校準、DCD與RJ抖動校準、壓力眼校準、均衡校準等。圖5.21展示了一整套DDR5接收端容限測試的環(huán)境。

克勞德高速數字信號測試實驗室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區(qū) DDR測試技術介紹與工具分析；USB測試DDR測試執(zhí)行標準

DDR測試DDR/LPDDR簡介目前在計算機主板和各種嵌入式的應用中，存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩種：一種是非易失性的，即掉電不會丟失數據，常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-OnlyMemory),這種存儲器速度較慢，主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數據信息等；另一種是易失性的，即掉電會丟失數據，常用的有RAM(RandomAccessMemory,隨機存儲器),這種存儲器運行速度較快，主要用于程序運行時的程序或者數據緩存等。圖5.1是市面上一些主流存儲器類型的劃分USB測試DDR測試執(zhí)行標準DDR4規(guī)范里關于信號建立保持是的定義；

DDR應用現狀隨著近十年以來智能手機、智能電視、AI技術的風起云涌，人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高，DDRSDRAM也不斷地響應市場的需求和技術的升級推陳出新。目前，用于主存的DDRSDRAM系列的芯片已經演進到了DDR5了，但市場上對經典的DDR3SDRAM的需求仍然比較旺盛。測試痛點測試和驗證電子設備中的DDR內存，客戶一般面臨三大難題：如何連接DDR內存管腳；如何探測和驗證突發(fā)的讀寫脈沖信號；配置測試系統(tǒng)完成DDR內存一致性測試。

DDR測試

DDR4/5與LPDDR4/5的信號質量測試由于基于DDR顆?；駾DRDIMM的系統(tǒng)需要適配不同的平臺，應用場景千差萬別，因此需要進行詳盡的信號質量測試才能保證系統(tǒng)的可靠工作。對于DDR4及以下的標準來說，物理層一致性測試主要是發(fā)送的信號質量測試；對于DDR5標準來說，由于接收端出現了均衡器，所以還要包含接收測試。DDR信號質量的測試也是使用高帶寬的示波器。對于DDR的信號，技術規(guī)范并沒有給出DDR信號上升/下降時間的具體參數，因此用戶只有根據使用芯片的實際快上升/下降時間來估算需要的示波器帶寬。通常對于DDR3信號的測試，推薦的示波器和探頭的帶寬在8GHz;DDR4測試建議的測試系統(tǒng)帶寬是12GHz;而DDR5測試則推薦使用16GHz以上帶寬的示波器和探頭系統(tǒng)。 DDR規(guī)范里關于信號建立；

DDR測試按照存儲信息方式的不同，隨機存儲器又分為靜態(tài)隨機存儲器SRAM(StaticRAM)和動態(tài)隨機存儲器DRAM(DynamicRAM)。SRAM運行速度較快、時延小、控制簡單，但是SRAM每比特的數據存儲需要多個晶體管，不容易實現大的存儲容量，主要用于一些對時延和速度有要求但又不需要太大容量的場合，如一些CPU芯片內置的緩存等。DRAM的時延比SRAM大，而且需要定期的刷新，控制電路相對復雜。但是由于DRAM每比特數據存儲只需要一個晶體管，因此具有集成度高、功耗低、容量大、成本低等特點，目前已經成為大容量RAM的主流，典型的如現在的PC、服務器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內存都是DRAM。什麼是DDR內存？如何測試？USB測試DDR測試執(zhí)行標準

DDR4關于信號建立保持是的定義；USB測試DDR測試執(zhí)行標準

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要注意的是，由于DDR的總線上存在內存控制器和內存顆粒兩種主要芯片，所以DDR的信號質量測試理論上也應該同時涉及這兩類芯片的測試。但是由于JEDEC只規(guī)定了對于內存顆粒這一側的信號質量的要求，因此DDR的自動測試軟件也只對這一側的信號質量進行測試。對于內存控制器一側的信號質量來說，不同控制器芯片廠商有不同的要求，目前沒有統(tǒng)一的規(guī)范，因此其信號質量的測試還只能使用手動的方法。這時用戶可以在內存控制器一側選擇測試點，并借助合適的信號讀/寫分離手段來進行手動測試。 USB測試DDR測試執(zhí)行標準