當(dāng)封測廠同時運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時,不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎,自動識別并適配各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式,消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計確保新增設(shè)備可快速接入,無需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力,使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測試數(shù)據(jù),避免為不同平臺維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時性由此得到保障,為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺兼容性,支撐客戶在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。YMS分層級的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)清晰,后續(xù)統(tǒng)計分析、深度挖掘都能快速上手。青海生產(chǎn)良率管理系統(tǒng)解決方案

不同封測廠的設(shè)備組合、工藝路線和管理重點(diǎn)差異明顯,標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案,可根據(jù)客戶實(shí)際接入的Tester設(shè)備(如T861、STS8107、MS7000等)和數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),調(diào)整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如,針對高頻返工場景,可定制缺陷聚類規(guī)則;針對客戶審計需求,可開發(fā)合規(guī)性報告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范,上層應(yīng)用則靈活適配業(yè)務(wù)流程,確保數(shù)據(jù)質(zhì)量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導(dǎo)出功能,進(jìn)一步提升質(zhì)量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務(wù)模式,使系統(tǒng)真正融入客戶日常運(yùn)營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發(fā)視為價值共創(chuàng)過程,以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。陜西生產(chǎn)YMS解決方案為保障分析準(zhǔn)確性,YMS將數(shù)據(jù)缺失性檢測列為關(guān)鍵——自動掃描多源數(shù)據(jù),標(biāo)記缺失字段并預(yù)警。

在高頻測試場景下,重復(fù)提交或設(shè)備通信中斷常導(dǎo)致數(shù)據(jù)冗余或缺失,直接影響良率計算準(zhǔn)確性。YMS系統(tǒng)通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動掃描數(shù)據(jù)集,識別完全重復(fù)或部分重疊的記錄,并予以合并或剔除;同時檢測關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空,快速定位缺失節(jié)點(diǎn)并提示修正。該機(jī)制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程,與異常值過濾協(xié)同工作,確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無偏。例如,當(dāng)某批次CP測試因機(jī)臺故障中斷后重跑,系統(tǒng)可自動識別并保留有效片段,避免重復(fù)計數(shù)拉低整體良率。這種自動化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負(fù)擔(dān),提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一,持續(xù)強(qiáng)化其在復(fù)雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。
當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時,只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架,建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如,若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移,同時CP漏電流異常升高,YMS可自動關(guān)聯(lián)兩者趨勢,提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化,快速鎖定關(guān)鍵影響因子,避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力,將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時,減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù),使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。量產(chǎn)中YMS嚴(yán)格校驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性,確保每條記錄一致可信,支撐全流程追溯。

面對海量測試數(shù)據(jù),表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點(diǎn)圖等多種可視化圖表:晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域,時間序列圖揭示良率波動周期,參數(shù)散點(diǎn)圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如,通過CP漏電與FT功能失效的散點(diǎn)分布,可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機(jī)制。圖形化表達(dá)降低數(shù)據(jù)分析門檻,使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式,加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則,提升YMS的信息傳達(dá)效率與決策支持價值。YMS采用標(biāo)準(zhǔn)化接口設(shè)計,簡化與第三方系統(tǒng)對接流程,大幅降低集成復(fù)雜度。青海生產(chǎn)良率管理系統(tǒng)解決方案
YMS自動生成的良率日報,不僅看趨勢,還直觀呈現(xiàn)缺陷分布及與工藝參數(shù)的關(guān)聯(lián),輔助快速決策。青海生產(chǎn)良率管理系統(tǒng)解決方案
芯片設(shè)計公司在多輪流片迭代中,亟需快速獲取準(zhǔn)確的測試反饋以指導(dǎo)下一版優(yōu)化。YMS自動采集來自ASL1000、TR6850、MS7000等平臺的stdf、txt、zip等格式數(shù)據(jù),完成清洗整合后,以圖表形式直觀呈現(xiàn)各版本間的良率差異與缺陷分布變化。設(shè)計工程師可對比V1.0與V1.1在相同測試條件下的FT失效模式,判斷修改是否有效。歷史數(shù)據(jù)按項(xiàng)目與版本歸檔,支持一鍵調(diào)取過往記錄用于評審會議。自動生成的PPT或PDF報告更簡化了跨部門溝通流程。這種閉環(huán)反饋機(jī)制大幅縮短設(shè)計驗(yàn)證周期。上海偉諾信息科技有限公司針對設(shè)計公司敏捷開發(fā)特點(diǎn),強(qiáng)化YMS的數(shù)據(jù)追溯與對比能力。青海生產(chǎn)良率管理系統(tǒng)解決方案
上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個客戶不容易,失去每一個用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn),才能繼續(xù)上路,讓我們一起點(diǎn)燃新的希望,放飛新的夢想!
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2026-01-18