當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架,建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如,若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移,同時(shí)CP漏電流異常升高,YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢,提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化,快速鎖定關(guān)鍵影響因子,避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力,將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí),減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù),使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。YMS構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)資產(chǎn)池,統(tǒng)一管理多項(xiàng)目測試數(shù)據(jù),輕松支撐跨項(xiàng)目良率對比分析。安徽車間YMS定制

良率異常若依賴人工逐項(xiàng)排查,常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對數(shù)據(jù),耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動(dòng)匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺(tái)的測試結(jié)果,構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫,并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動(dòng)。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí),工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖,判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析,使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi),大幅減少試錯(cuò)成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力,讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。甘肅半導(dǎo)體良率管理系統(tǒng)多少錢YMS設(shè)置多級(jí)權(quán)限,既保障數(shù)據(jù)安全,又支持跨角色按需共享,協(xié)作更順暢。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率,YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù),建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫,實(shí)現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢,系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素,指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo),輔助工程師高效決策。同時(shí),系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告,并導(dǎo)出為常用辦公格式,滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命,其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。
因測試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤導(dǎo)致誤判良率,可能引發(fā)不必要的重測或錯(cuò)誤工藝調(diào)整,造成材料與時(shí)間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗(yàn),自動(dòng)剔除異常記錄,確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如,當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時(shí),系統(tǒng)會(huì)標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì),避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證,進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上,明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制,將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯,保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。YMS內(nèi)置異常過濾規(guī)則,自動(dòng)剔除重復(fù)、錯(cuò)誤數(shù)據(jù),確保存入數(shù)據(jù)庫的測試數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。

當(dāng)測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時(shí),傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費(fèi)數(shù)小時(shí)核對字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)解析引擎識(shí)別各類數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),檢測重復(fù)性與缺失性,并過濾異常值,將清洗過程壓縮至分鐘級(jí)。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫,確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理,而是聚焦于缺陷模式識(shí)別與工藝優(yōu)化建議。這種自動(dòng)化處理不僅提升效率,更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力,支撐客戶實(shí)現(xiàn)高效、可靠的良率管理。YMS實(shí)時(shí)追蹤良率波動(dòng),異常觸發(fā)即推預(yù)警,助力工藝參數(shù)快速調(diào)整穩(wěn)生產(chǎn)。天津晶圓良率管理系統(tǒng)解決方案
YMS自動(dòng)生成SEMI標(biāo)準(zhǔn)良率文檔,客戶審核、內(nèi)部歸檔不用再手動(dòng)整理。安徽車間YMS定制
良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成連續(xù)良率曲線,并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí),系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間,還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄,輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品,工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力,使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具,時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF,用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時(shí)間序列分析功能,助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過程管控。安徽車間YMS定制
上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個(gè)客戶不容易,失去每一個(gè)用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn),才能繼續(xù)上路,讓我們一起點(diǎn)燃新的希望,放飛新的夢想!
晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原... [詳情]
2026-01-19良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成... [詳情]
2026-01-19面對工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、... [詳情]
2026-01-19當(dāng)封測廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí)... [詳情]
2026-01-18面對工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、... [詳情]
2026-01-18晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率,YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并... [詳情]
2026-01-18