在半導(dǎo)體制造中,晶圓廠制程的任何微小變動,都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險(xiǎn)。其中,一個(gè)尤為典型的系統(tǒng)性失效模式,便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle(光罩)。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計(jì)瑕疵時(shí),或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移(如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均)時(shí)。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片,實(shí)質(zhì)上構(gòu)成了一個(gè)高風(fēng)險(xiǎn)的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除,將直接流向客戶端,對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識別并處理這類與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷,是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。
上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個(gè)Shot Mapping Ink方案,可以將整個(gè)Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格,根據(jù)設(shè)定的算法將整個(gè)Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案,用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個(gè)失效芯片”前移至“攔截整個(gè)失效風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴(yán)苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品,它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險(xiǎn),為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對系統(tǒng)性缺陷的堅(jiān)固防線。 Mapping Over Ink處理明顯降低早期失效率,減少封裝環(huán)節(jié)的潛在失效風(fēng)險(xiǎn)。半導(dǎo)體PAT包括什么內(nèi)容

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn),定制化成為提升系統(tǒng)價(jià)值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實(shí)際使用的測試平臺組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配,例如針對特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯,或?yàn)楦哳l監(jiān)控場景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一,上層應(yīng)用則靈活可調(diào),既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性,又滿足業(yè)務(wù)個(gè)性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報(bào)表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系,確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付,定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價(jià)值共創(chuàng)過程,以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。重慶半導(dǎo)體MappingOverInk處理軟件Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規(guī)級場景,保障晶圓表面完整性。

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與制造流程中,良率管理系統(tǒng)的價(jià)值體現(xiàn)在對復(fù)雜測試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動對接多種測試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù),完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理,構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過對WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)參數(shù)的聯(lián)動分析,系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計(jì)缺陷,為研發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動與缺陷分布,支持從批次到晶圓級別的精細(xì)追溯。報(bào)表功能滿足不同管理層級對數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求,實(shí)現(xiàn)從現(xiàn)場到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本,以質(zhì)取勝”的理念,持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品,推動國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。
面對工廠級良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測試數(shù)據(jù),通過自動化清洗與異常過濾,構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長期趨勢,或從空間維度比對不同機(jī)臺、批次間的性能差異,精確識別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動的質(zhì)量躍升。GDBC聚類結(jié)果支持根因快速定位,加速工藝問題解決效率。
面對市場上良率管理系統(tǒng)供應(yīng)商良莠不齊的局面,技術(shù)自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標(biāo)準(zhǔn)。真正有效的系統(tǒng)需同時(shí)支持多品牌Tester設(shè)備、處理異構(gòu)數(shù)據(jù)格式,并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的數(shù)據(jù)接口,覆蓋stdf、csv、log等十余種格式,實(shí)現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時(shí)間趨勢與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?,還能關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,精確定位根因。更重要的是,系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐,確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力,使YMS在國產(chǎn)替代進(jìn)程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),持續(xù)驗(yàn)證其作為可靠供應(yīng)商的技術(shù)實(shí)力與服務(wù)承諾。Cluster方法有效定位區(qū)域性異常Die,通過相鄰關(guān)聯(lián)性分析識別連續(xù)性失效。半導(dǎo)體PAT包括什么內(nèi)容
Mapping Over Ink處理提升車規(guī)級芯片的長期可靠性,滿足嚴(yán)苛環(huán)境要求。半導(dǎo)體PAT包括什么內(nèi)容
面對海量測試數(shù)據(jù),表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點(diǎn)圖等多種可視化圖表:晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域,時(shí)間序列圖揭示良率波動周期,參數(shù)散點(diǎn)圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如,通過CP漏電與FT功能失效的散點(diǎn)分布,可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機(jī)制。圖形化表達(dá)降低數(shù)據(jù)分析門檻,使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式,加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計(jì)原則,提升YMS的信息傳達(dá)效率與決策支持價(jià)值。半導(dǎo)體PAT包括什么內(nèi)容
上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中,一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取,不斷制造創(chuàng)新的市場高度,多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑,成績讓我們喜悅,但不會讓我們止步,殘酷的市場磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志,和諧溫馨的工作環(huán)境,富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新,勇于進(jìn)取的無限潛力,攜手大家一起走向共同輝煌的未來,回首過去,我們不會因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜,相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍,我們更要明確自己的不足,做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備,要不畏困難,激流勇進(jìn),以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家,共同走向輝煌回來!
每日晨會前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào),... [詳情]
2026-01-18晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno... [詳情]
2026-01-18在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí),YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解... [詳情]
2026-01-18當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)... [詳情]
2026-01-17