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在晶圓制造過(guò)程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類(lèi)失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周?chē)嬖谝粋€(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測(cè)試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測(cè)試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類(lèi)“過(guò)測(cè)”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對(duì)。必須借助特定的空間識(shí)別算法，對(duì)晶圓測(cè)試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過(guò)分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周?chē)欢ǚ秶鷥?nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對(duì)齊，確保測(cè)試結(jié)果可追溯。浙江可視化GDBC

Mapping Over Ink是一套在晶圓測(cè)試（CP）后，對(duì)電性測(cè)試圖譜進(jìn)行智能分析、處理，并直接驅(qū)動(dòng)探針臺(tái)對(duì)特定芯片進(jìn)行噴墨打點(diǎn)的自動(dòng)化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動(dòng)——將不良品標(biāo)記出來(lái)，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點(diǎn)是預(yù)見(jiàn)性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商，致力于為國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與晶圓測(cè)試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺(tái)集成了業(yè)界前沿、專(zhuān)業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，旨在通過(guò)多重維度的智能篩選，構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線，有效地提升用戶的晶圓測(cè)試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 河北可視化GDBC服務(wù)Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提供售前咨詢(xún)與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，保障客戶實(shí)施體驗(yàn)。

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動(dòng)，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險(xiǎn)。其中，一個(gè)尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計(jì)瑕疵時(shí)，或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過(guò)程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均）時(shí)。這些因Reticle問(wèn)題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實(shí)質(zhì)上構(gòu)成了一個(gè)高風(fēng)險(xiǎn)的“潛伏失效群體”。若不能在測(cè)試階段被精確識(shí)別并剔除，將直接流向客戶端，對(duì)產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識(shí)別并處理這類(lèi)與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個(gè)Shot Mapping Ink方案，可以將整個(gè)Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個(gè)Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過(guò)Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個(gè)失效芯片”前移至“攔截整個(gè)失效風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域”。這尤其適用于對(duì)可靠性要求極嚴(yán)苛的車(chē)規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問(wèn)題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險(xiǎn)，為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對(duì)系統(tǒng)性缺陷的堅(jiān)固防線。

芯片制造對(duì)良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)接入各類(lèi)Tester平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，支持按時(shí)間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類(lèi)與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問(wèn)題。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控，為芯片級(jí)質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，專(zhuān)注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)正成為國(guó)產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵助力。PAT模塊通過(guò)統(tǒng)計(jì)方法識(shí)別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風(fēng)險(xiǎn)芯片。

在高頻測(cè)試場(chǎng)景下，重復(fù)提交或設(shè)備通信中斷常導(dǎo)致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計(jì)算準(zhǔn)確性。YMS系統(tǒng)通過(guò)時(shí)間戳、測(cè)試編號(hào)、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動(dòng)掃描數(shù)據(jù)集，識(shí)別完全重復(fù)或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時(shí)檢測(cè)關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點(diǎn)并提示修正。該機(jī)制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過(guò)濾協(xié)同工作，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無(wú)偏。例如，當(dāng)某批次CP測(cè)試因機(jī)臺(tái)故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別并保留有效片段，避免重復(fù)計(jì)數(shù)拉低整體良率。這種自動(dòng)化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負(fù)擔(dān)，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一，持續(xù)強(qiáng)化其在復(fù)雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續(xù)性、孤立型等多種失效模式，提升識(shí)別全面性。浙江可視化GDBC

Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無(wú)縫傳遞。浙江可視化GDBC

良率管理的目標(biāo)是將海量測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化采集來(lái)自各類(lèi)Tester平臺(tái)的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來(lái)的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，支持從批次級(jí)到晶圓級(jí)的多維度缺陷分析，例如識(shí)別某一時(shí)段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗(yàn)證，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造偏差，縮短問(wèn)題排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與實(shí)時(shí)卡控，為關(guān)鍵指標(biāo)設(shè)置動(dòng)態(tài)防線。周期性報(bào)告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種從數(shù)據(jù)到行動(dòng)的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過(guò)程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)推動(dòng)YMS成為行業(yè)提質(zhì)增效的基礎(chǔ)設(shè)施。浙江可視化GDBC

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念，先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn)，在發(fā)展過(guò)程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià)，這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果，這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力，也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳３謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無(wú)前的進(jìn)取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來(lái)，創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)！