江西半導(dǎo)體Mapping Inkless解決方案

在封測工廠的日常運(yùn)營中，良率波動(dòng)往往源于測試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時(shí)識(shí)別。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測、缺失值識(shí)別與異常數(shù)據(jù)過濾，確保后續(xù)分析基于準(zhǔn)確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時(shí)間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，進(jìn)一步強(qiáng)化了質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具可按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)深耕半導(dǎo)體軟件領(lǐng)域，其YMS系統(tǒng)已成為封測企業(yè)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)管理的重要支撐。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺(tái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。江西半導(dǎo)體Mapping Inkless解決方案

在晶圓制造過程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對。必須借助特定的空間識(shí)別算法，對晶圓測試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 山東半導(dǎo)體GDBC軟件Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續(xù)性、孤立型等多種失效模式，提升識(shí)別全面性。

車間管理者需要的是能即時(shí)反映產(chǎn)線狀態(tài)的良率監(jiān)控工具，而非復(fù)雜的數(shù)據(jù)平臺(tái)。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場景，自動(dòng)匯聚來自現(xiàn)場Tester設(shè)備的測試結(jié)果，并實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)清洗與異常過濾，確?？窗逭故镜男畔?zhǔn)確有效。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)支持按班次、機(jī)臺(tái)或產(chǎn)品型號(hào)動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長在交接班前快速識(shí)別異常批次。當(dāng)某區(qū)域連續(xù)出現(xiàn)低良率時(shí)，系統(tǒng)可聯(lián)動(dòng)CP與FT數(shù)據(jù)判斷是否為共性工藝問題，并觸發(fā)預(yù)警。日報(bào)、周報(bào)自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，減少手工填報(bào)負(fù)擔(dān)。這種“輕部署、快響應(yīng)、強(qiáng)落地”的設(shè)計(jì)思路，使良率管理真正融入日常生產(chǎn)節(jié)奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對封測工廠運(yùn)作邏輯的深刻洞察，持續(xù)優(yōu)化YMS的車間適用性。

半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅(jiān)固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來識(shí)別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險(xiǎn)芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與CP測試廠對提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 Mapping Over Ink處理推動(dòng)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)決策，取代經(jīng)驗(yàn)式質(zhì)量判斷。

當(dāng)封測廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí)，不同平臺(tái)輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎，自動(dòng)識(shí)別并適配各類測試平臺(tái)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式，消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計(jì)確保新增設(shè)備可快速接入，無需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺(tái)維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時(shí)性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺(tái)兼容性，支撐客戶在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。Mapping Over Ink處理技術(shù)適用于消費(fèi)類至車規(guī)級全品類芯片，覆蓋廣泛應(yīng)用場景。寧夏自動(dòng)化MappingOverInk處理服務(wù)商

客戶可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對比分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。江西半導(dǎo)體Mapping Inkless解決方案

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設(shè)定固定閾值，難以適應(yīng)產(chǎn)品迭代或工藝波動(dòng)。YMS系統(tǒng)基于歷史測試數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據(jù)統(tǒng)計(jì)規(guī)律動(dòng)態(tài)調(diào)整控制邊界。當(dāng)某批次實(shí)際良率跌破SBL時(shí)，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質(zhì)量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動(dòng)工藝評審。該機(jī)制將質(zhì)量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報(bào)廢成本。自動(dòng)計(jì)算替代經(jīng)驗(yàn)估算，確?？貥?biāo)準(zhǔn)客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動(dòng)卡控作為YMS的關(guān)鍵功能，支撐客戶實(shí)現(xiàn)過程質(zhì)量的主動(dòng)管理。江西半導(dǎo)體Mapping Inkless解決方案

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！