半導(dǎo)體MappingOverInk處理平臺(tái)

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過(guò)在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過(guò)程中需要通過(guò)疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過(guò)特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過(guò)一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的智能質(zhì)量防線。 GDBC算法識(shí)別的聚類區(qū)域常指向設(shè)備或掩模問題，反饋工藝優(yōu)化方向。半導(dǎo)體MappingOverInk處理平臺(tái)

半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢(shì)與區(qū)域?qū)Ρ确治觯€能通過(guò)WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能，為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù)；靈活報(bào)表引擎則支持按項(xiàng)目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡(jiǎn)報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報(bào)場(chǎng)景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。江蘇可視化MappingOverInk處理解決方案工藝窗口優(yōu)化得益于Mapping Over Ink處理對(duì)失效模式的精確識(shí)別，提升制造良率水平。

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場(chǎng)、溫度場(chǎng)及壓力場(chǎng)分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測(cè)試（CP）的制造流程中，對(duì)電性測(cè)試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對(duì)這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測(cè)試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。

芯片制造過(guò)程中，良率波動(dòng)若不能及時(shí)識(shí)別，可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報(bào)廢。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常過(guò)濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì)，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，可區(qū)分是設(shè)計(jì)問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報(bào)表工具按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng)，助力芯片制造企業(yè)構(gòu)建自主可控的質(zhì)量管理能力。PAT模塊與GDBC算法協(xié)同減少誤剔除良品風(fēng)險(xiǎn)，平衡質(zhì)量與成本。

測(cè)試數(shù)據(jù)長(zhǎng)期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹，而大量重復(fù)或無(wú)效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫(kù)前自動(dòng)清洗，剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡(jiǎn)化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無(wú)需為無(wú)效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡(jiǎn)有效”的存儲(chǔ)策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì)，助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。Mapping Over Ink處理后的數(shù)據(jù)完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計(jì)需求。河南Mapping Inkless系統(tǒng)

Mapping Over Ink處理實(shí)現(xiàn)測(cè)試通過(guò)率與長(zhǎng)期可靠性雙重保障，平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。半導(dǎo)體MappingOverInk處理平臺(tái)

半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體制造過(guò)程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測(cè)試的“通過(guò)/失敗”界限，已無(wú)法滿足對(duì)產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測(cè)試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅(jiān)固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來(lái)識(shí)別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險(xiǎn)芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與CP測(cè)試廠對(duì)提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對(duì)高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來(lái)的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 半導(dǎo)體MappingOverInk處理平臺(tái)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來(lái)公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來(lái)，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針，員工精誠(chéng)努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！