在半導(dǎo)體設(shè)計與制造流程中,良率管理系統(tǒng)的價值體現(xiàn)在對復(fù)雜測試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動對接多種測試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù),完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理,構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過對WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點參數(shù)的聯(lián)動分析,系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計缺陷,為研發(fā)和制造團隊提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動與缺陷分布,支持從批次到晶圓級別的精細追溯。報表功能滿足不同管理層級對數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求,實現(xiàn)從現(xiàn)場到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本,以質(zhì)取勝”的理念,持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品,推動國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。Mapping Over Ink處理助力國產(chǎn)軟件生態(tài)建設(shè),推動技術(shù)自主可控。陜西晶圓GDBC服務(wù)商

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備,實時匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗,消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖,清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異,輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時,可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移,實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力,使良率管理從經(jīng)驗驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解,將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。湖南半導(dǎo)體PAT系統(tǒng)定制STACKED算法適用于多層結(jié)構(gòu)失效分析,解析層間關(guān)聯(lián)缺陷的分布特征。

每周一上午趕制良率周報曾是質(zhì)量團隊的固定負擔:手動匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式,耗時且易出錯。YMS內(nèi)置報表模板可按日、周、月自動生成結(jié)構(gòu)化報告,內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時間趨勢等關(guān)鍵指標,并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營會議,客戶審計接收標準化PDF文檔,工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑,避免信息互相影響。報表制作時間從數(shù)小時降至幾分鐘,釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能,推動企業(yè)決策從“經(jīng)驗驅(qū)動”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動”轉(zhuǎn)型。
在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,實時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與清洗,消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對,支持從批次到晶圓級別的精細監(jiān)控。當某一批次良率驟降時,系統(tǒng)可迅速調(diào)取對應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖,并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,輔助工程師在數(shù)小時內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動預(yù)警,防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解,持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅(qū)動能力。DPAT模塊動態(tài)調(diào)整閾值以適應(yīng)批次差異,分場景優(yōu)化測試限設(shè)定。
每日晨會前臨時整理良率報表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動生成日報、周報、月報,內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標,并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報,質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘,客戶審計則接收標準化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差,確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報告生成時間從數(shù)小時壓縮至分鐘級,大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具,讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。Mapping Over Ink處理實現(xiàn)測試通過率與長期可靠性雙重保障,平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。遼寧可視化PAT平臺
Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續(xù)性、孤立型等多種失效模式,提升識別全面性。陜西晶圓GDBC服務(wù)商
芯片制造對良率控制的精度要求極高,YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺輸出的多格式文件,自動完成數(shù)據(jù)清洗與整合,確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù),系統(tǒng)可精確識別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計問題,并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報,便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進。這種精細化的數(shù)據(jù)治理能力,使企業(yè)在激烈競爭中保持質(zhì)量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。陜西晶圓GDBC服務(wù)商
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標,有組織有體系的公司,堅持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明,攜手共畫藍圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源,也收獲了良好的用戶口碑,為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ),也希望未來公司能成為*****,努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量,我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息,斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌,共創(chuàng)佳績,一直以來,公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針,員工精誠努力,協(xié)同奮取,以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場,我們一直在路上!
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2026-01-17