中國(guó)香港半導(dǎo)體PAT服務(wù)商

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動(dòng)，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險(xiǎn)。其中，一個(gè)尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計(jì)瑕疵時(shí)，或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均）時(shí)。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實(shí)質(zhì)上構(gòu)成了一個(gè)高風(fēng)險(xiǎn)的“潛伏失效群體”。若不能在測(cè)試階段被精確識(shí)別并剔除，將直接流向客戶端，對(duì)產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識(shí)別并處理這類與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個(gè)Shot Mapping Ink方案，可以將整個(gè)Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個(gè)Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個(gè)失效芯片”前移至“攔截整個(gè)失效風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域”。這尤其適用于對(duì)可靠性要求極嚴(yán)苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險(xiǎn)，為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對(duì)系統(tǒng)性缺陷的堅(jiān)固防線。 上海偉諾信息科技SPAT功能，通過結(jié)合測(cè)試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。中國(guó)香港半導(dǎo)體PAT服務(wù)商

良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí)，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具，時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時(shí)間序列分析功能，助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過程管控。中國(guó)臺(tái)灣可視化MappingOverInk處理系統(tǒng)定制高價(jià)值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實(shí)生產(chǎn)場(chǎng)景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺(tái)自動(dòng)采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對(duì)良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面，方案強(qiáng)調(diào)時(shí)間序列下的良率波動(dòng)追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量管理。同時(shí)，報(bào)表引擎支持按需生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費(fèi)習(xí)慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，將YMS方案打造為兼具實(shí)用性與擴(kuò)展性的國(guó)產(chǎn)選擇。

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設(shè)定固定閾值，難以適應(yīng)產(chǎn)品迭代或工藝波動(dòng)。YMS系統(tǒng)基于歷史測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據(jù)統(tǒng)計(jì)規(guī)律動(dòng)態(tài)調(diào)整控制邊界。當(dāng)某批次實(shí)際良率跌破SBL時(shí)，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質(zhì)量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動(dòng)工藝評(píng)審。該機(jī)制將質(zhì)量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報(bào)廢成本。自動(dòng)計(jì)算替代經(jīng)驗(yàn)估算，確?？貥?biāo)準(zhǔn)客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動(dòng)卡控作為YMS的關(guān)鍵功能，支撐客戶實(shí)現(xiàn)過程質(zhì)量的主動(dòng)管理。Mapping Over Ink處理提升車規(guī)級(jí)芯片的長(zhǎng)期可靠性，滿足嚴(yán)苛環(huán)境要求。

晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實(shí)時(shí)匯聚原始測(cè)試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí)，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規(guī)級(jí)場(chǎng)景，保障晶圓表面完整性。黑龍江晶圓GDBC

Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，降低客戶投訴率。中國(guó)香港半導(dǎo)體PAT服務(wù)商

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價(jià)值體現(xiàn)在對(duì)復(fù)雜測(cè)試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接多種測(cè)試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理，構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過對(duì)WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計(jì)缺陷，為研發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動(dòng)與缺陷分布，支持從批次到晶圓級(jí)別的精細(xì)追溯。報(bào)表功能滿足不同管理層級(jí)對(duì)數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實(shí)現(xiàn)從現(xiàn)場(chǎng)到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質(zhì)取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。中國(guó)香港半導(dǎo)體PAT服務(wù)商

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念，先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn)，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià)，這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果，這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力，也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳３謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無前的進(jìn)取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)！