甘肅自動化PAT服務商

當封測廠每日面對來自數(shù)十臺測試機臺的海量異構數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)手工匯總方式已難以滿足實時質量管控需求。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數(shù)據(jù)，剔除重復、缺失與異常記錄，構建高可信度的數(shù)據(jù)底座。標準化數(shù)據(jù)庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區(qū)域識別系統(tǒng)性缺陷，結合WAT、CP、FT參數(shù)變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統(tǒng)可聯(lián)動CP數(shù)據(jù)判斷是否為封裝環(huán)節(jié)引入問題，縮短排查周期達數(shù)小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數(shù)據(jù)驅動質量改進的關鍵工具。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質量事件發(fā)生時自動觸發(fā)設備維護工單，實現(xiàn)預防性維護。甘肅自動化PAT服務商

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實生產場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎上，系統(tǒng)構建標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調用。分析層面，方案強調時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點，實現(xiàn)預防性質量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費習慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，將YMS方案打造為兼具實用性與擴展性的國產選擇。西藏晶圓GDBC平臺上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準確性與生產流程的可追溯性。然而在實際量產環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導致當批晶圓的測試結果無法被正確解析，更會中斷生產信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對整體產品良率與制程管控構成嚴峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內的多種設備類型。通過這一轉換流程，用戶不僅能夠有效恢復因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復測試帶來的成本與時間損失，更能構建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅實的數(shù)據(jù)基石。

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設定固定閾值，難以適應產品迭代或工藝波動。YMS系統(tǒng)基于歷史測試數(shù)據(jù)自動計算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據(jù)統(tǒng)計規(guī)律動態(tài)調整控制邊界。當某批次實際良率跌破SBL時，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動工藝評審。該機制將質量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報廢成本。自動計算替代經驗估算，確?？貥藴士陀^、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動卡控作為YMS的關鍵功能，支撐客戶實現(xiàn)過程質量的主動管理。Mapping數(shù)據(jù)經解析后與Bin信息精確對齊，確保測試結果可追溯。

良率波動若不能及時干預，可能造成數(shù)百萬級的產能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗來自多種測試平臺的異構數(shù)據(jù)，構建高可信度分析基礎。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產品月度良率下降與特定封裝線關聯(lián)，并結合FT參數(shù)驗證是否為打線偏移導致。SYL/SBL卡控機制設置動態(tài)閾值，在指標異常時自動預警，實現(xiàn)前置質量管控。多周期報表自動生成并支持多格式導出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種“實時感知—智能歸因—主動干預”的能力，將良率管理從經驗驅動升級為數(shù)據(jù)驅動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實用性。Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉換，滿足多樣化數(shù)據(jù)需求。甘肅自動化PAT服務商

Mapping Over Ink數(shù)據(jù)處理流程全程自動化運行，大幅減少人工復核的人為干預。甘肅自動化PAT服務商

當封測廠同時運行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內置的多協(xié)議解析引擎，自動識別并適配各類測試平臺的數(shù)據(jù)結構，將異構原始數(shù)據(jù)轉換為標準化內部格式，消除因設備差異導致的信息割裂。模塊化接口設計確保新增設備可快速接入，無需重構系統(tǒng)架構。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產線測試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺維護多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實時性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺兼容性，支撐客戶在復雜設備環(huán)境中實現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。甘肅自動化PAT服務商

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！