芯片制造對良率控制的精度要求極高,YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺輸出的多格式文件,自動完成數(shù)據(jù)清洗與整合,確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關鍵參數(shù),系統(tǒng)可精確識別導致良率下降的工藝或設計問題,并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報,便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進。這種精細化的數(shù)據(jù)治理能力,使企業(yè)在激烈競爭中保持質量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導體產(chǎn)業(yè),其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。PAT模塊與GDBC算法協(xié)同減少誤剔除良品風險,平衡質量與成本。海南晶圓GDBC服務商

面對海量測試數(shù)據(jù),表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表:晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域,時間序列圖揭示良率波動周期,參數(shù)散點圖暴露非線性關聯(lián)關系。例如,通過CP漏電與FT功能失效的散點分布,可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻,使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質量討論。這種“所見即所得”的洞察方式,加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關鍵設計原則,提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。河南可視化GDBCMapping Inkless實現(xiàn)無物理噴墨的邏輯剔除,避免傳統(tǒng)標記對先進封裝的干擾。

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試(CP)后,對電性測試圖譜進行智能分析、處理,并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法(如ZPAT, GDBN)得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來,使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片,而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。
上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商,致力于為國內外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊,旨在通過多重維度的智能篩選,構筑起一道安全的質量防線,有效地提升用戶的晶圓測試質量與產(chǎn)品可靠性。
測試數(shù)據(jù)長期累積導致存儲空間迅速膨脹,而大量重復或無效記錄加劇資源浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動清洗,剔除重復提交、通信錯誤產(chǎn)生的冗余信息,并將stdf、csv、txt等異構格式統(tǒng)一壓縮存儲于標準化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率,還簡化備份與維護流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本,也降低了IT運維復雜度。這種“精簡有效”的存儲策略,在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設計,助力客戶在控制成本的同時構建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。PAT模塊通過統(tǒng)計方法識別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元,剔除隱性風險芯片。
良率波動若不能及時干預,可能造成數(shù)百萬級的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,即時采集并清洗來自多種測試平臺的異構數(shù)據(jù),構建高可信度分析基礎。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析,例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關聯(lián),并結合FT參數(shù)驗證是否為打線偏移導致。SYL/SBL卡控機制設置動態(tài)閾值,在指標異常時自動預警,實現(xiàn)前置質量管控。多周期報表自動生成并支持多格式導出,使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種“實時感知—智能歸因—主動干預”的能力,將良率管理從經(jīng)驗驅動升級為數(shù)據(jù)驅動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質取勝”為準則,持續(xù)打磨YMS的可靠性與實用性。AECQ合規(guī)性內嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中,確保車規(guī)級標準嚴格執(zhí)行。寧夏自動化PAT解決方案
工藝波動引發(fā)的微小偏移通過PAT統(tǒng)計模型精確捕捉,實現(xiàn)早期預警。海南晶圓GDBC服務商
因測試數(shù)據(jù)錯誤導致誤判良率,可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調整,造成材料與時間雙重浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗,自動剔除異常記錄,確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如,當某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時,系統(tǒng)會標記該記錄而非直接納入統(tǒng)計,避免拉低整體良率。結合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗證,進一步排除孤立異常點。高質量數(shù)據(jù)輸入使質量決策建立在可靠基礎上,明顯降低返工率和報廢風險。這種前置質量控制機制,將成本節(jié)約從“事后補救”轉向“事前預防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴謹?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯,保障YMS輸出結果的科學性與可執(zhí)行性。海南晶圓GDBC服務商
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標,有組織有體系的公司,堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明,攜手共畫藍圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源,也收獲了良好的用戶口碑,為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎,也希望未來公司能成為*****,努力為行業(yè)領域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量,我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息,斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌,共創(chuàng)佳績,一直以來,公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針,員工精誠努力,協(xié)同奮取,以品質、服務來贏得市場,我們一直在路上!
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