面對工廠級良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測試數(shù)據(jù),通過自動化清洗與異常過濾,構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長期趨勢,或從空間維度比對不同機(jī)臺、批次間的性能差異,精確識別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動的質(zhì)量躍升。Mapping Over Ink處理技術(shù)適用于消費(fèi)類至車規(guī)級全品類芯片,覆蓋廣泛應(yīng)用場景。云南可視化Mapping Inkless軟件

在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,實(shí)時(shí)匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與清洗,消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對,支持從批次到晶圓級別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時(shí),系統(tǒng)可迅速調(diào)取對應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖,并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,輔助工程師在數(shù)小時(shí)內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動預(yù)警,防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報(bào)表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解,持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅(qū)動能力。中國香港晶圓Mapping Inkless工具客戶可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對比分析,優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

測試數(shù)據(jù)長期累積導(dǎo)致存儲空間迅速膨脹,而大量重復(fù)或無效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動清洗,剔除重復(fù)提交、通信錯誤產(chǎn)生的冗余信息,并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率,還簡化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本,也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡有效”的存儲策略,在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì),助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。
企業(yè)在評估測封良率管理系統(tǒng)投入時(shí),關(guān)注的是功能覆蓋度與長期服務(wù)保障。YMS提供模塊化配置,支持根據(jù)實(shí)際使用的Tester類型(如ETS364、Juno、AMIDA、CTA8280等)和數(shù)據(jù)格式(包括stdf、jdf、log等)靈活調(diào)整功能組合。系統(tǒng)不僅完成數(shù)據(jù)自動清洗與整合,還通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ燃叭毕菥垲惖亩嗑S分析。SYL與SBL的自動計(jì)算與閾值卡控,為封測過程設(shè)置動態(tài)質(zhì)量防線。報(bào)價(jià)策略基于定制化程度與服務(wù)范圍,確保企業(yè)在合理預(yù)算內(nèi)獲得高性價(jià)比解決方案。配套的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù),保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行與持續(xù)演進(jìn)。上海偉諾信息科技有限公司以透明定價(jià)與完整服務(wù)體系,幫助客戶實(shí)現(xiàn)良率管理的可持續(xù)提升。PAT模塊通過統(tǒng)計(jì)方法識別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元,剔除隱性風(fēng)險(xiǎn)芯片。
面對市場上良率管理系統(tǒng)供應(yīng)商良莠不齊的局面,技術(shù)自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標(biāo)準(zhǔn)。真正有效的系統(tǒng)需同時(shí)支持多品牌Tester設(shè)備、處理異構(gòu)數(shù)據(jù)格式,并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的數(shù)據(jù)接口,覆蓋stdf、csv、log等十余種格式,實(shí)現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時(shí)間趨勢與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?,還能關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,精確定位根因。更重要的是,系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐,確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力,使YMS在國產(chǎn)替代進(jìn)程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),持續(xù)驗(yàn)證其作為可靠供應(yīng)商的技術(shù)實(shí)力與服務(wù)承諾。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能,能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。浙江MappingOverInk處理解決方案
Mapping Over Ink數(shù)據(jù)處理流程全程自動化運(yùn)行,大幅減少人工復(fù)核的人為干預(yù)。云南可視化Mapping Inkless軟件
良率異常若依賴人工逐項(xiàng)排查,常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對數(shù)據(jù),耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果,構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫,并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí),工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖,判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析,使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi),大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力,讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。云南可視化Mapping Inkless軟件
上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個(gè)客戶不容易,失去每一個(gè)用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn),才能繼續(xù)上路,讓我們一起點(diǎn)燃新的希望,放飛新的夢想!
晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno... [詳情]
2026-01-18在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí),YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解... [詳情]
2026-01-18當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)... [詳情]
2026-01-17面對國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對自主可控軟件的迫切需求,良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系... [詳情]
2026-01-17良率波動若不能及時(shí)干預(yù),可能造成數(shù)百萬級的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,即時(shí)采集并清洗來自多種... [詳情]
2026-01-17