中國臺灣自動化Mapping Inkless工具

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測試結(jié)果無法被正確解析，更會中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測試帶來的成本與時間損失，更能構(gòu)建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 AECQ合規(guī)性內(nèi)嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中，確保車規(guī)級標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格執(zhí)行。中國臺灣自動化Mapping Inkless工具

為提升晶圓測試（CP測試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進(jìn)行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動化，有效提升品質(zhì)與效率。內(nèi)蒙古自動化Mapping Inkless工具高價值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。

在晶圓制造過程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價值體現(xiàn)在對復(fù)雜測試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動對接多種測試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理，構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過對WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)參數(shù)的聯(lián)動分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計(jì)缺陷，為研發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動與缺陷分布，支持從批次到晶圓級別的精細(xì)追溯。報表功能滿足不同管理層級對數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實(shí)現(xiàn)從現(xiàn)場到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質(zhì)取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn)，定制化成為提升系統(tǒng)價值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實(shí)際使用的測試平臺組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配，例如針對特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯，或?yàn)楦哳l監(jiān)控場景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一，上層應(yīng)用則靈活可調(diào)，既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性，又滿足業(yè)務(wù)個性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系，確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付，定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價值共創(chuàng)過程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。Mapping Inkless實(shí)現(xiàn)無物理噴墨的邏輯剔除，避免傳統(tǒng)標(biāo)記對先進(jìn)封裝的干擾。河南GDBC解決方案

Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉(zhuǎn)換，滿足多樣化數(shù)據(jù)需求。中國臺灣自動化Mapping Inkless工具

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對缺陷進(jìn)行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。中國臺灣自動化Mapping Inkless工具

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù)，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點(diǎn)燃新的希望，放飛新的夢想！