當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測(cè)試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架,建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如,若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移,同時(shí)CP漏電流異常升高,YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢(shì),提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化,快速鎖定關(guān)鍵影響因子,避免在封裝或測(cè)試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力,將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí),減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測(cè)試數(shù)據(jù),使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。參數(shù)漂移趨勢(shì)在PAT分析中清晰呈現(xiàn),實(shí)現(xiàn)早期風(fēng)險(xiǎn)預(yù)警。廣西GDBC工具

芯片制造對(duì)良率控制的精度要求極高,YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測(cè)試平臺(tái)輸出的多格式文件,自動(dòng)完成數(shù)據(jù)清洗與整合,確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù),系統(tǒng)可精確識(shí)別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計(jì)問題,并以圖表形式展現(xiàn)芯片級(jí)缺陷分布與趨勢(shì)變化。靈活的報(bào)表引擎支持按周期自動(dòng)生成分析簡(jiǎn)報(bào),便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進(jìn)。這種精細(xì)化的數(shù)據(jù)治理能力,使企業(yè)在激烈競(jìng)爭(zhēng)中保持質(zhì)量?jī)?yōu)勢(shì)。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的重要工具。河南自動(dòng)化MappingOverInk處理軟件Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對(duì)齊,確保測(cè)試結(jié)果可追溯。

當(dāng)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時(shí),傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時(shí),還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流程,將來(lái)自ETS364、STS8200、TR6850等設(shè)備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ),構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎(chǔ)上,結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試階段的參數(shù)變化,系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關(guān)聯(lián),輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級(jí)缺陷熱力圖、批次良率走勢(shì)一目了然,明顯縮短問題響應(yīng)周期。報(bào)表功能支持按需定制并導(dǎo)出多種辦公格式,提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實(shí)時(shí)卡控能力,則有效預(yù)防批量性質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本,以質(zhì)取勝”的宗旨,致力于打造適配國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體生態(tài)的智能良率管理工具。
Mapping Over Ink是一套在晶圓測(cè)試(CP)后,對(duì)電性測(cè)試圖譜進(jìn)行智能分析、處理,并直接驅(qū)動(dòng)探針臺(tái)對(duì)特定芯片進(jìn)行噴墨打點(diǎn)的自動(dòng)化系統(tǒng)。它將各種分析算法(如ZPAT, GDBN)得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動(dòng)——將不良品標(biāo)記出來(lái),使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點(diǎn)是預(yù)見性地剔除所有潛在缺陷芯片,而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。
上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商,致力于為國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與晶圓測(cè)試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺(tái)集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊,旨在通過多重維度的智能篩選,構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線,有效地提升用戶的晶圓測(cè)試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 上海偉諾信息科技Stacked Map功能,通過堆疊多片Wafer結(jié)合算法與卡控規(guī)則檢測(cè)mapping上存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。
面對(duì)國(guó)產(chǎn)替代需求,選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺(tái),覆蓋十余種測(cè)試數(shù)據(jù)格式,實(shí)現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動(dòng)化。其分析引擎支持時(shí)間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng),精確識(shí)別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報(bào)表導(dǎo)出功能,進(jìn)一步強(qiáng)化過程管控與決策支持。更重要的是,系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐,確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力,使YMS在國(guó)產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強(qiáng)大競(jìng)爭(zhēng)力。偉諾依托多年項(xiàng)目積累,持續(xù)驗(yàn)證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價(jià)值。Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯,確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無(wú)縫傳遞。寧夏Mapping Inkless解決方案
Mapping Over Ink處理實(shí)現(xiàn)測(cè)試通過率與長(zhǎng)期可靠性雙重保障,平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。廣西GDBC工具
良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成連續(xù)良率曲線,并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí),系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間,還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄,輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品,工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力,使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具,時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF,用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時(shí)間序列分析功能,助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過程管控。廣西GDBC工具
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念,先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn),在發(fā)展過程中不斷完善自己,要求自己,不斷創(chuàng)新,時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**,在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià),這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果,這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力,也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳3謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無(wú)前的進(jìn)取創(chuàng)新精神,努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度,在全體員工共同努力之下,全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來(lái),創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品,我們將以更好的狀態(tài),更認(rèn)真的態(tài)度,更飽滿的精力去創(chuàng)造,去拼搏,去努力,讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)!
當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來(lái)自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的... [詳情]
2026-01-19在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測(cè)試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流... [詳情]
2026-01-19每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),... [詳情]
2026-01-18晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18