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      企業(yè)商機(jī)
      MappingOverInk處理基本參數(shù)
      • 品牌
      • 上海偉諾
      • 型號
      • 偉諾
      • 適用行業(yè)
      • 半導(dǎo)體
      • 版本類型
      • 網(wǎng)絡(luò)版
      • 語言版本
      • 簡體中文版
      MappingOverInk處理企業(yè)商機(jī)

      在晶圓測試(CP)過程中,ProbeMapping(探針測試圖譜)作為記錄每一顆芯片測試結(jié)果的重要載體,其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中,因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況,Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測試結(jié)果無法被正確解析,更會中斷生產(chǎn)信息鏈,使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù),對整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

      針對這一行業(yè)共性難題,上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測試場景出發(fā),開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案,致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù),智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式,兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程,用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù),避免晶圓重復(fù)測試帶來的成本與時間損失,更能構(gòu)建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道,從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動化水平,為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 Mapping Over Ink數(shù)據(jù)處理流程全程自動化運(yùn)行,大幅減少人工復(fù)核的人為干預(yù)。新疆自動化MappingOverInk處理工具

      新疆自動化MappingOverInk處理工具,MappingOverInk處理

      在半導(dǎo)體制造中,由于Fab制程的物理與化學(xué)特性,晶圓邊緣的芯片(Edge Die)其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個關(guān)鍵因素:首先,在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中,晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均,導(dǎo)致工藝一致性變差;其次,邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題;此外,光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此,在晶圓測試(CP)的制造流程中,對電性測試圖譜(Wafer Mapping)執(zhí)行“去邊”操作,便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
      上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù),滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片,可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測試,從而直接節(jié)約成本,并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。內(nèi)蒙古半導(dǎo)體MappingOverInk處理服務(wù)商PAT模塊與GDBC算法協(xié)同減少誤剔除良品風(fēng)險(xiǎn),平衡質(zhì)量與成本。

      新疆自動化MappingOverInk處理工具,MappingOverInk處理

      面對國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對自主可控軟件的迫切需求,良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù),通過內(nèi)置算法識別重復(fù)項(xiàng)、缺失值并過濾異常記錄,確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支撐下,企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢,或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚥▌狱c(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析,進(jìn)一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計(jì)算與卡控機(jī)制,強(qiáng)化了過程質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式,提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng),助力構(gòu)建中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)。

      一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案,必須根植于真實(shí)生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù),到解析、清洗、整合的完整鏈路,確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎(chǔ)上,系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫,實(shí)現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面,方案強(qiáng)調(diào)時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類,結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化,形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制點(diǎn),實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量管理。同時,報(bào)表引擎支持按需生成周期報(bào)告,并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,適配不同管理層的信息消費(fèi)習(xí)慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累,將YMS方案打造為兼具實(shí)用性與擴(kuò)展性的國產(chǎn)選擇。STACKED算法適用于多層結(jié)構(gòu)失效分析,解析層間關(guān)聯(lián)缺陷的分布特征。

      當(dāng)封測廠同時運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時,不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎,自動識別并適配各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式,消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計(jì)確保新增設(shè)備可快速接入,無需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力,使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測試數(shù)據(jù),避免為不同平臺維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時性由此得到保障,為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺兼容性,支撐客戶在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。Mapping Over Ink處理推動數(shù)據(jù)驅(qū)動決策,取代經(jīng)驗(yàn)式質(zhì)量判斷。陜西晶圓MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

      Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時自動觸發(fā)設(shè)備維護(hù)工單,實(shí)現(xiàn)預(yù)防性維護(hù)。新疆自動化MappingOverInk處理工具

      在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,實(shí)時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與清洗,消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對,支持從批次到晶圓級別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時,系統(tǒng)可迅速調(diào)取對應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖,并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,輔助工程師在數(shù)小時內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時自動預(yù)警,防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報(bào)表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解,持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅(qū)動能力。新疆自動化MappingOverInk處理工具

      上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個客戶不容易,失去每一個用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn),才能繼續(xù)上路,讓我們一起點(diǎn)燃新的希望,放飛新的夢想!

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