半導(dǎo)體設(shè)計公司對良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲,確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實現(xiàn)時間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治?,還能通過WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計風(fēng)險,輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能,為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù);靈活報表引擎則支持按項目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報,并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,適配不同匯報場景。這種深度集成的能力,使良率管理從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則,持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。AECQ合規(guī)性內(nèi)嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中,確保車規(guī)級標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格執(zhí)行。云南半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)

在半導(dǎo)體制造中,晶圓廠制程的任何微小變動,都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險。其中,一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式,便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle(光罩)。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計瑕疵時,或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移(如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均)時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片,實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風(fēng)險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除,將直接流向客戶端,對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識別并處理這類與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷,是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。
上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案,可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格,根據(jù)設(shè)定的算法將整個Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案,用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風(fēng)險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴(yán)苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品,它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險,為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。 云南自動化GDBC系統(tǒng)定制上海偉諾信息科技SPAT功能,通過結(jié)合測試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。

在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,實時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與清洗,消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對,支持從批次到晶圓級別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時,系統(tǒng)可迅速調(diào)取對應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖,并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化,輔助工程師在數(shù)小時內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時自動預(yù)警,防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解,持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅(qū)動能力。
當(dāng)封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時,每臺設(shè)備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導(dǎo)致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)議解析引擎,可自動識別各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與接口協(xié)議,無需定制開發(fā)即可完成數(shù)據(jù)采集與格式轉(zhuǎn)換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復(fù)性檢測、缺失字段識別和異常值過濾,確保入庫數(shù)據(jù)準(zhǔn)確完整。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對所有來源數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類存儲,為后續(xù)良率分析提供一致基礎(chǔ)。這種“即插即用”的兼容能力,明顯降低多設(shè)備環(huán)境下的集成復(fù)雜度與維護(hù)成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際設(shè)備生態(tài),持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性。Mapping Over Ink處理助力國產(chǎn)軟件生態(tài)建設(shè),推動技術(shù)自主可控。
半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線,扮演著日益關(guān)鍵角色,單純依賴傳統(tǒng)電性測試的“通過/失敗”界限,已無法滿足對產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測試覆蓋度,構(gòu)筑更為堅固的質(zhì)量防線,采用GDBN技術(shù)來識別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險芯片,已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。
細(xì)化需求。
為此,上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案,該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性,能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計公司與CP測試廠對提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求,成為客戶應(yīng)對高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴,共同構(gòu)筑面向未來的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯,確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無縫傳遞。云南自動化GDBC系統(tǒng)定制
Mapping Over Ink處理算法組合可根據(jù)產(chǎn)品類型靈活配置,適配消費級至前沿芯片需求。云南半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)
晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備,實時匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗,消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖,清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異,輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當(dāng)某批次CP良率異常時,可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移,實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力,使良率管理從經(jīng)驗驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解,將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。云南半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)
上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個客戶不容易,失去每一個用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗,才能繼續(xù)上路,讓我們一起點燃新的希望,放飛新的夢想!
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2026-01-18