安徽自動化GDBC

良率管理系統(tǒng)的價值不僅在于技術(shù)實現(xiàn)，更在于對半導(dǎo)體企業(yè)關(guān)鍵痛點的精確回應(yīng)。當(dāng)設(shè)計公司或制造工廠面臨測試數(shù)據(jù)分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統(tǒng)通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備，自動完成從數(shù)據(jù)采集到異常過濾的全流程治理。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫為多維度分析奠定基礎(chǔ)，使時間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ?、參?shù)關(guān)聯(lián)等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區(qū)域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結(jié)合FT與CP數(shù)據(jù)偏差，可追溯封裝環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險。SYL與SBL的自動計算功能，則為良率目標(biāo)達成提供量化依據(jù)。報表系統(tǒng)支持靈活配置與多格式導(dǎo)出，明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，推動YMS成為國產(chǎn)半導(dǎo)體提質(zhì)增效的可靠伙伴。AECQ合規(guī)性內(nèi)嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中，確保車規(guī)級標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格執(zhí)行。安徽自動化GDBC

面對海量測試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數(shù)散點圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。內(nèi)蒙古可視化MappingOverInk處理系統(tǒng)價格上海偉諾信息科技SPAT功能，通過結(jié)合測試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。

因測試數(shù)據(jù)錯誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調(diào)整，造成材料與時間雙重浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗，自動剔除異常記錄，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時，系統(tǒng)會標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗證，進一步排除孤立異常點。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報廢風(fēng)險。這種前置質(zhì)量控制機制，將成本節(jié)約從“事后補救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。

每日晨會前臨時整理良率報表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動生成日報、周報、月報，內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報告生成時間從數(shù)小時壓縮至分鐘級，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。Mapping Over Ink處理提升車規(guī)級芯片的長期可靠性，滿足嚴(yán)苛環(huán)境要求。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實時測試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數(shù)小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。Mapping Over Ink處理因數(shù)據(jù)分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。安徽自動化GDBC

Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進行風(fēng)險判定，確保車規(guī)級芯片可靠性。安徽自動化GDBC

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。安徽自動化GDBC

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！