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      企業(yè)商機
      MappingOverInk處理基本參數
      • 品牌
      • 上海偉諾
      • 型號
      • 偉諾
      • 適用行業(yè)
      • 半導體
      • 版本類型
      • 網絡版
      • 語言版本
      • 簡體中文版
      MappingOverInk處理企業(yè)商機

      在評估良率管理系統投入時,企業(yè)關注的不僅是初始采購成本,更是長期使用中的效率回報與服務保障。YMS系統提供模塊化配置方案,涵蓋軟件授權、必要定制、技術培訓及持續(xù)運維支持,確保部署后穩(wěn)定運行與功能演進。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設備,處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數據,大幅減少人工清洗與整合工作量,降低隱性人力成本。透明的報價結構避免隱性收費,使預算規(guī)劃更可控。同時,系統內置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導出功能,直接支撐質量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦能”的模式,明顯優(yōu)化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。PAT模塊與GDBC算法協同減少誤剔除良品風險,平衡質量與成本。安徽可視化GDBC系統價格

      安徽可視化GDBC系統價格,MappingOverInk處理

      晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后,依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類,生成色彩漸變的熱力圖,直觀呈現中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現,識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后,還能判斷該現象是偶發(fā)異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析,使優(yōu)化措施從“整體調整”轉向“精確干預”,明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求,將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。湖北PAT系統Mapping Over Ink處理后的數據完整支持回溯為原始Probe格式,滿足客戶審計需求。

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      在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰(zhàn)時,YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺,采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據,并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾,確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類,企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢,或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布,快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析,進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線,而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報,并導出為PPT、Excel或PDF格式,滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,持續(xù)打磨YMS系統,助力客戶構建自主可控的良率管理能力。

      半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產生的多格式測試數據,完成統一解析與結構化存儲,確保從晶圓到單顆芯片的數據鏈完整。系統不僅實現時間趨勢與區(qū)域對比分析,還能通過WAT參數漂移預警潛在設計風險,輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能,為良率目標達成提供量化依據;靈活報表引擎則支持按項目、產品線或客戶維度生成分析簡報,并導出為PPT、Excel或PDF,適配不同匯報場景。這種深度集成的能力,使良率管理從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質取勝”為準則,持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。上海偉諾信息科技Shot Map功能,可以自定義設定Wafer Mapping上Reticle區(qū)域并按規(guī)則Ink。

      芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高,任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統通過自動接入各類Tester平臺產生的多格式測試數據,完成高精度的數據解析與整合,確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實可靠。系統依托標準化數據庫,支持按時間、區(qū)域、批次等多維度進行缺陷聚類與根因追溯,幫助研發(fā)與制造團隊快速響應異常。結合WAT、CP、FT等關鍵節(jié)點數據的變化,可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設計兼容性問題。SYL與SBL參數的自動計算與卡控,為芯片級質量提供雙重保障。報表工具支持按模板生成周期報告,并導出為常用辦公格式,提升信息流轉效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,專注于半導體系統軟件研發(fā),其YMS系統正成為國產芯片企業(yè)提升產品競爭力的關鍵助力??蛻艨蓮陀肕apping Over Ink處理結果進行跨批次對比分析,優(yōu)化生產工藝。湖北PAT系統

      Mapping Over Ink數據處理流程全程自動化運行,大幅減少人工復核的人為干預。安徽可視化GDBC系統價格

      一套高效的良率管理系統開發(fā)方案,必須根植于真實生產場景的數據流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數據,到解析、清洗、整合的完整鏈路,確保數據源頭的完整性與一致性。在此基礎上,系統構建標準化數據庫,實現對良率信息的統一分類與高效調用。分析層面,方案強調時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類,結合WAT、CP、FT參數變化,形成從現象到根因的完整證據鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點,實現預防性質量管理。同時,報表引擎支持按需生成周期報告,并導出為PPT、Excel或PDF,適配不同管理層的信息消費習慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累,將YMS方案打造為兼具實用性與擴展性的國產選擇。安徽可視化GDBC系統價格

      上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念,先進的管理經驗,在發(fā)展過程中不斷完善自己,要求自己,不斷創(chuàng)新,時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司,在上海市等地區(qū)的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**,在業(yè)界也收獲了很多良好的評價,這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果,這些評價對我們而言是比較好的前進動力,也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神,努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度,在全體員工共同努力之下,全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來,創(chuàng)造更有價值的產品,我們將以更好的狀態(tài),更認真的態(tài)度,更飽滿的精力去創(chuàng)造,去拼搏,去努力,讓我們一起更好更快的成長!

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