ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù),通過(guò)在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片,從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過(guò)程中需要通過(guò)疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例,通過(guò)特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。
為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn),上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力,使其能夠通過(guò)一套高度可配置的流程,精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片,從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的智能質(zhì)量防線。 Mapping Over Ink處理通過(guò)失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常,指導(dǎo)工藝改進(jìn)方向。甘肅MappingOverInk處理服務(wù)商

良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成連續(xù)良率曲線,并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí),系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間,還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄,輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品,工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力,使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具,時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF,用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)YMS的時(shí)間序列分析功能,助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過(guò)程管控。天津可視化PAT上海偉諾信息科技Stacked Map功能,通過(guò)堆疊多片Wafer結(jié)合算法與卡控規(guī)則檢測(cè)mapping上存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。

半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ),確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢(shì)與區(qū)域?qū)Ρ确治?,還能通過(guò)WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn),輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能,為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù);靈活報(bào)表引擎則支持按項(xiàng)目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡(jiǎn)報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,適配不同匯報(bào)場(chǎng)景。這種深度集成的能力,使良率管理從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則,持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。
良率波動(dòng)若不能及時(shí)干預(yù),可能造成數(shù)百萬(wàn)級(jí)的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程,即時(shí)采集并清洗來(lái)自多種測(cè)試平臺(tái)的異構(gòu)數(shù)據(jù),構(gòu)建高可信度分析基礎(chǔ)。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢(shì)到微觀缺陷的穿透式分析,例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關(guān)聯(lián),并結(jié)合FT參數(shù)驗(yàn)證是否為打線偏移導(dǎo)致。SYL/SBL卡控機(jī)制設(shè)置動(dòng)態(tài)閾值,在指標(biāo)異常時(shí)自動(dòng)預(yù)警,實(shí)現(xiàn)前置質(zhì)量管控。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出,使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種“實(shí)時(shí)感知—智能歸因—主動(dòng)干預(yù)”的能力,將良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)升級(jí)為數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則,持續(xù)打磨YMS的可靠性與實(shí)用性。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺(tái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng),構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。
當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí),不同平臺(tái)輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過(guò)內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎,自動(dòng)識(shí)別并適配各類測(cè)試平臺(tái)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式,消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計(jì)確保新增設(shè)備可快速接入,無(wú)需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力,使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測(cè)試數(shù)據(jù),避免為不同平臺(tái)維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時(shí)性由此得到保障,為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái),持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺(tái)兼容性,支撐客戶在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。Mapping Over Ink處理實(shí)現(xiàn)測(cè)試通過(guò)率與長(zhǎng)期可靠性雙重保障,平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。甘肅MappingOverInk處理服務(wù)商
Mapping Over Ink處理系統(tǒng)輸出結(jié)構(gòu)化日志,完整記錄處理過(guò)程滿足質(zhì)量追溯需求。甘肅MappingOverInk處理服務(wù)商
面對(duì)工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來(lái)自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測(cè)試數(shù)據(jù),通過(guò)自動(dòng)化清洗與異常過(guò)濾,構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長(zhǎng)期趨勢(shì),或從空間維度比對(duì)不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異,精確識(shí)別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對(duì)WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿足從車間班組長(zhǎng)到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動(dòng)工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量躍升。甘肅MappingOverInk處理服務(wù)商
上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中,一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取,不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度,多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑,成績(jī)讓我們喜悅,但不會(huì)讓我們止步,殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志,和諧溫馨的工作環(huán)境,富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新,勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力,攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái),回首過(guò)去,我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜,相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍,我們更要明確自己的不足,做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備,要不畏困難,激流勇進(jìn),以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家,共同走向輝煌回來(lái)!
在晶圓測(cè)試(CP)過(guò)程中,ProbeMapping(探針測(cè)試圖譜)作為記錄每一顆芯片測(cè)試結(jié)果的重... [詳情]
2026-01-19當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來(lái)自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的... [詳情]
2026-01-19在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測(cè)試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問(wèn)題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流... [詳情]
2026-01-19每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),... [詳情]
2026-01-18晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18