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ZPAT 是一種基于統(tǒng)計學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對日益嚴苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動態(tài)統(tǒng)計過程控制的智能質(zhì)量防線。 Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場競爭力，降低客戶投訴率。陜西可視化PAT軟件

車間管理者需要的是能即時反映產(chǎn)線狀態(tài)的良率監(jiān)控工具，而非復(fù)雜的數(shù)據(jù)平臺。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場景，自動匯聚來自現(xiàn)場Tester設(shè)備的測試結(jié)果，并實時進行數(shù)據(jù)清洗與異常過濾，確?？窗逭故镜男畔蚀_有效。通過標準化數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)支持按班次、機臺或產(chǎn)品型號動態(tài)呈現(xiàn)良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長在交接班前快速識別異常批次。當(dāng)某區(qū)域連續(xù)出現(xiàn)低良率時，系統(tǒng)可聯(lián)動CP與FT數(shù)據(jù)判斷是否為共性工藝問題，并觸發(fā)預(yù)警。日報、周報自動生成并支持多格式導(dǎo)出，減少手工填報負擔(dān)。這種“輕部署、快響應(yīng)、強落地”的設(shè)計思路，使良率管理真正融入日常生產(chǎn)節(jié)奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對封測工廠運作邏輯的深刻洞察，持續(xù)優(yōu)化YMS的車間適用性。廣西Mapping Inkless平臺Mapping Over Ink處理實現(xiàn)測試通過率與長期可靠性雙重保障，平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計瑕疵時，或當(dāng)光刻機在步進重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風(fēng)險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構(gòu)成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風(fēng)險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險，為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設(shè)計、工藝與質(zhì)量團隊可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動文化的基礎(chǔ)設(shè)施。Mapping Over Ink處理技術(shù)適用于消費類至車規(guī)級全品類芯片，覆蓋廣泛應(yīng)用場景。

在評估良率管理系統(tǒng)投入時，企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運維支持，確保部署后穩(wěn)定運行與功能演進。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結(jié)構(gòu)避免隱性收費，使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導(dǎo)出功能，直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦能”的模式，明顯優(yōu)化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。Mapping Over Ink處理因數(shù)據(jù)分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。廣西Mapping Inkless平臺

多輪重測數(shù)據(jù)動態(tài)更新Mapping Over Ink處理的Ink決策，確保篩選結(jié)果實時優(yōu)化。陜西可視化PAT軟件

良率異常若依賴人工逐項排查，常需跨多個系統(tǒng)比對數(shù)據(jù)，耗時且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當(dāng)某批次FT良率下降時，工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時內(nèi)，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。陜西可視化PAT軟件

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！