芯片制造對(duì)良率控制的顆粒度要求極高,任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)接入各類(lèi)Tester平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù),完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合,確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù),支持按時(shí)間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類(lèi)與根因追溯,幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化,可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問(wèn)題。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控,為芯片級(jí)質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告,并導(dǎo)出為常用辦公格式,提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái),專(zhuān)注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā),其YMS系統(tǒng)正成為國(guó)產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵助力。Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯,便于客戶(hù)驗(yàn)證和審計(jì)分析結(jié)果。寧夏可視化Mapping Inkless系統(tǒng)價(jià)格

芯片制造過(guò)程中,良率波動(dòng)若不能及時(shí)識(shí)別,可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報(bào)廢。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測(cè)試數(shù)據(jù),完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常過(guò)濾,確保分析基礎(chǔ)可靠。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì),或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚠惓|c(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,可區(qū)分是設(shè)計(jì)問(wèn)題還是制程偏差,大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn),實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報(bào)表工具按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,提升跨部門(mén)決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái),持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng),助力芯片制造企業(yè)構(gòu)建自主可控的質(zhì)量管理能力。浙江Mapping Inkless平臺(tái)工藝工程師基于GDBC聚類(lèi)結(jié)果優(yōu)化制程參數(shù),提升制造良率水平。

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn),定制化成為提升系統(tǒng)價(jià)值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶(hù)實(shí)際使用的測(cè)試平臺(tái)組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配,例如針對(duì)特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類(lèi)邏輯,或?yàn)楦哳l監(jiān)控場(chǎng)景開(kāi)發(fā)專(zhuān)屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一,上層應(yīng)用則靈活可調(diào),既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性,又滿(mǎn)足業(yè)務(wù)個(gè)性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報(bào)表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶(hù)權(quán)限體系,確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無(wú)縫融合。通過(guò)前期深度調(diào)研與迭代式交付,定制方案能精確匹配客戶(hù)在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價(jià)值共創(chuàng)過(guò)程,以技術(shù)靈活性支撐客戶(hù)業(yè)務(wù)獨(dú)特性。
當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí),只靠單一測(cè)試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架,建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如,若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移,同時(shí)CP漏電流異常升高,YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢(shì),提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線(xiàn)與良率變化,快速鎖定關(guān)鍵影響因子,避免在封裝或測(cè)試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力,將問(wèn)題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí),減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)深度整合多源測(cè)試數(shù)據(jù),使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。工藝窗口優(yōu)化得益于Mapping Over Ink處理對(duì)失效模式的精確識(shí)別,提升制造良率水平。
ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù),通過(guò)在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片,從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過(guò)程中需要通過(guò)疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例,通過(guò)特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。
為助力客戶(hù)應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn),上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶(hù)高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力,使其能夠通過(guò)一套高度可配置的流程,精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片,從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的智能質(zhì)量防線(xiàn)。 Mapping Over Ink處理算法組合可根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)型靈活配置,適配消費(fèi)級(jí)至前沿芯片需求。安徽半導(dǎo)體PAT系統(tǒng)價(jià)格
客戶(hù)可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對(duì)比分析,優(yōu)化生產(chǎn)工藝。寧夏可視化Mapping Inkless系統(tǒng)價(jià)格
當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí),每臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導(dǎo)致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)議解析引擎,可自動(dòng)識(shí)別各類(lèi)測(cè)試平臺(tái)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與接口協(xié)議,無(wú)需定制開(kāi)發(fā)即可完成數(shù)據(jù)采集與格式轉(zhuǎn)換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復(fù)性檢測(cè)、缺失字段識(shí)別和異常值過(guò)濾,確保入庫(kù)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確完整。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)所有來(lái)源數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類(lèi)存儲(chǔ),為后續(xù)良率分析提供一致基礎(chǔ)。這種“即插即用”的兼容能力,明顯降低多設(shè)備環(huán)境下的集成復(fù)雜度與維護(hù)成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際設(shè)備生態(tài),持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性。寧夏可視化Mapping Inkless系統(tǒng)價(jià)格
上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中,一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取,不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度,多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑,成績(jī)讓我們喜悅,但不會(huì)讓我們止步,殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志,和諧溫馨的工作環(huán)境,富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開(kāi)拓創(chuàng)新,勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力,攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái),回首過(guò)去,我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜,相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍,我們更要明確自己的不足,做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備,要不畏困難,激流勇進(jìn),以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家,共同走向輝煌回來(lái)!
當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來(lái)自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的... [詳情]
2026-01-19在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測(cè)試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問(wèn)題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流... [詳情]
2026-01-19每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表,常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),... [詳情]
2026-01-18晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR685... [詳情]
2026-01-18半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno... [詳情]
2026-01-18