福建晶圓Mapping Inkless系統(tǒng)定制

面對國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數(shù)據(jù)格式，實(shí)現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動(dòng)化。其分析引擎支持時(shí)間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)，精確識別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，進(jìn)一步強(qiáng)化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強(qiáng)大競爭力。偉諾依托多年項(xiàng)目積累，持續(xù)驗(yàn)證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價(jià)值。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。福建晶圓Mapping Inkless系統(tǒng)定制

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時(shí)，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。黑龍江Mapping Inkless軟件客戶可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對比分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

分散在不同Excel表格或本地?cái)?shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時(shí)間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源。跨部門協(xié)作時(shí)，設(shè)計(jì)、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)文化的基礎(chǔ)設(shè)施。

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對缺陷進(jìn)行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時(shí)間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理減少人工復(fù)核負(fù)擔(dān)，提升質(zhì)量控制效率。

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。Mapping Over Ink處理算法組合可根據(jù)產(chǎn)品類型靈活配置，適配消費(fèi)級至前沿芯片需求。黑龍江Mapping Inkless軟件

上海偉諾信息科技Stacked Map功能，通過堆疊多片Wafer結(jié)合算法與卡控規(guī)則檢測mapping上存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。福建晶圓Mapping Inkless系統(tǒng)定制

良率異常若依賴人工逐項(xiàng)排查，常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對數(shù)據(jù)，耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動(dòng)匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動(dòng)。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí)，工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi)，大幅減少試錯(cuò)成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。福建晶圓Mapping Inkless系統(tǒng)定制

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù)，信奉著“爭取每一個(gè)客戶不容易，失去每一個(gè)用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點(diǎn)燃新的希望，放飛新的夢想！